在某種程度上來說，正是因為IC芯片的大量發(fā)展，功率半導體才改稱為電源管理半導體。也正是因為這么多的集成電路（IC）進入電源領(lǐng)域，人們才更多地以電源管理來稱呼現(xiàn)階段的電源技術(shù)。電源管理半導體中的主導部分是電源管理IC。功率因數(shù)控制PFC預調(diào)制IC，提供具有功率因數(shù)校正功能的電源輸入電路；脈沖調(diào)制或脈幅調(diào)制PWM/PFM控制IC，為脈沖頻率調(diào)制和/或脈沖寬度調(diào)制控制器，用于驅(qū)動外部開關(guān)；線性調(diào)制IC（如線性低壓降穩(wěn)壓器LDO等），包括正向和負向調(diào)節(jié)器，以及低壓降LDO調(diào)制管；電池充電和管理IC。IC芯片的集成度是指單塊芯片上所容納的元件數(shù)目。集成度越高，所容納的元件數(shù)目越多。TI TPD4E05U06

IC芯片檢測需要應(yīng)用的設(shè)備主要是自動測試設(shè)備【ATE】+機械臂【Handler】+儀器儀表，需要制作的硬件是測試板【Loadboard】+測試插座【Socket】等。系統(tǒng)級SLT測試，常應(yīng)用于功能測試、性能測試和可靠性測試中，常常作為成品FT測試的補充而存在，顧名思義就是在一個系統(tǒng)環(huán)境下進行測試，就是把芯片放到它正常工作的環(huán)境中運行功能來檢測其好壞，缺點是只能覆蓋一部分的功能，覆蓋率較低所以一般是FT的補充手段。需要應(yīng)用的設(shè)備主要是機械臂【Handler】，需要制作的硬件是系統(tǒng)板【SystemBoard】+測試插座【Socket】。TI TLV2401IDBVR專業(yè)的ic芯片廠家對于ic芯片的生產(chǎn)，在技術(shù)方面是有著很多的支持的。

因為大多采用的是塑料，散熱效果較差，無法滿足現(xiàn)行高速芯片的要求。因此，使用雙排直立式封裝的，大多是歷久不衰的芯片，或是對運作速度沒那么要求且芯片較小、接孔較少的IC芯片。芯片需要做哪些測試呢？主要分三大類：芯片功能測試、性能測試、可靠性測試，芯片產(chǎn)品要上市三大測試缺一不可。功能測試，是測試芯片的參數(shù)、指標、功能。性能測試，由于芯片在生產(chǎn)制造過程中，有無數(shù)可能的引入缺陷的步驟，即使是同一批晶圓和封裝成品，芯片也各有好壞，所以需要進行篩選，人話說就是雞蛋里挑石頭，把“石頭”芯片丟掉。

IC芯片直流工作電壓測量：這是一種在通電情況下，用萬用表直流電壓擋對直流供電電壓、外層元件的工作電壓進行測量；檢測IC各引腳對地直流電壓值，并與正常值相比較，進而壓縮故障范圍，出損壞的元件。測量時要注意以下：萬用表要有足夠大的內(nèi)阻，少要大于被測電路電阻的10倍以上，以免造成較大的測量誤差。通常把各電位器旋到中間位置，如果是電視機，信號源要采用標準彩條信號發(fā)生器。表筆或探頭要采取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞IC。IC芯片檢測時萬用表置于交流電壓擋，正表筆插入db插孔。

IC芯片編寫的診斷程序要嚴格有針對，能夠讓某些關(guān)鍵部位出現(xiàn)有規(guī)律的信號，能夠?qū)ε及l(fā)故障進行反復測試及能顯示記錄出錯情況。如何判定集成電路中電源IC芯片是否正常：首先要掌握該電路中IC的用途、內(nèi)部結(jié)構(gòu)原理、主要電特性等，必要時還要分析內(nèi)部電原理圖。除了這些，如果再有各引腳對地直流電壓、波形、對地正反向直流電阻值，那么，對檢查前判斷提供了更有利條件。然后按故障現(xiàn)象判斷其部位，再按部位查找故障元件。有時需要多種判斷方法去證明該器件是否確屬損壞。作為IC芯片廠家來說，影響產(chǎn)品的成品率，比較關(guān)鍵的因素就是產(chǎn)品原材料的質(zhì)量。SILICON/芯科 CP2102-GMR

IC芯片包含晶圓芯片和封裝芯片，相應(yīng)IC芯片生產(chǎn)線由晶圓生產(chǎn)線和封裝生產(chǎn)線兩部分組成。TI TPD4E05U06

IC芯片技術(shù)包括芯片制造技術(shù)與設(shè)計技術(shù)，主要體現(xiàn)在加工設(shè)備，加工工藝，封裝測試，批量生產(chǎn)及設(shè)計創(chuàng)新的能力上。如何判斷IC芯片的好壞：不在路檢測：這種方法是在ic未焊入電路時進行的，一般情況下可用萬用表測量各引腳對應(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻值，并和完好的ic進行比較。在路檢測：這是一種通過萬用表檢測IC各引腳在路（IC在電路中）直流電阻、對地交直流電壓以及總工作電流的檢測方法。這種方法克服了代換試驗法需要有可代換IC的局限性和拆卸IC的麻煩，是檢測IC常用和實用的方法。TI TPD4E05U06

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