針對自研的太陽光譜輻照度計入射光學系統(tǒng)的結構特征,分析了引入余弦誤差的因素,研究了直、漫射輻照度以及漫射-總輻射比的余弦校正方法,開展了實驗室余弦響應特性測量和多種儀器的敦煌外場比對試驗.結果顯示,余弦誤差與積分球入口黑色陽極化內壁及結構有關,在入射角為60°時,440nm、500nm、670nm和870nm波段太陽光譜輻照度計的余弦誤差為4.3%~9.1%;由太陽光譜輻照度計獲取的直射輻照度反演得到的大氣光學厚度受到余弦誤差的嚴重影響,余弦校正前后與CE318太陽光度計反演結果相比,偏差分別為0.11~0.13和小于0.012;基于天空輻亮度各向同性分布假設,余弦校正后四個波段漫射輻照度數值提升6.8%~10%.基于天空輻亮度分布數據,提出了一種漫射輻照度的精確校正方法,仿真結果顯示,余弦校正后的漫射輻照度與理論數據一致,初步驗證了該方法的可行性.濺鍍制備低發(fā)射率膜：在第二真空鍍膜室中，氬離子撞擊靶材。北京生產太陽光譜模擬銷量

根據拍攝時刻和所地理經度，計算拍攝時刻的太陽時角。在本實施例一可行的方式中，可根據ω(x，t)＝(12-t)×15°-l(x)(5)計算太陽時角，其中，t為拍攝時刻，ω(x，t)為坐標為(x，y)的像素點在t時刻對應的太陽時角。s24，根據太陽赤緯角、太陽時角和地理緯度，計算拍攝時刻的太陽高度角。在本實施例一可行的方式中，可根據α(x，y，d，t)＝arcsin[sinb(y)×sinδ(d)+cosb(y)×cosδ(d)×cosω(x，t)](6)計算太陽高度角α(x，y，d，t)。湖北銷售太陽光譜模擬代理反應性濺鍍制備緩沖膜：在第三真空鍍膜室中，氬離子撞擊靶材。

伴隨工作溫度的升高，如何抑制高溫下熱輻射損失顯得愈發(fā)重要?；谇捌诘难芯炕A，研究組開發(fā)出另一種新型金屬陶瓷薄膜WTi-Al2O3。借助光學模擬設計，獲得太陽光譜選擇性吸收涂層結構參數的優(yōu)化范圍，構建了WTi-Al2O3太陽光譜選擇性吸收涂層。經600℃長時間（840 h）退火，WTi-Al2O3涂層仍保持較高的吸收率~93%，500℃下的熱發(fā)射率*有10.3%，遠低于文獻報道值（>13%@500℃）。研究表明，WTi合金納米粒子內金屬Ti的外擴散、偏析及部分氧化可有效抑制W納米粒子的團聚和長大，從而提高涂層的熱穩(wěn)定性，實現對WTi-Al2O3太陽光譜選擇性吸收涂層光學性能和熱穩(wěn)定性的雙重調控（Nano Energy 2017, 37, 232），

因此，對于地球靜止軌道光學遙感衛(wèi)星在不同日期、不同時間、不同地點拍攝圖像的太陽光照補償值為δet＝et(x1，y1，z1，d1，t1)-et(x2，y2，z2，d2，t2)，(2)其中，下角標1和2**兩個不同拍攝日期、和/或時間和/或位置。至此，通過獲取地球靜止軌道衛(wèi)星光學遙感圖像的尺寸、地理經度區(qū)間、地理緯度區(qū)間、拍攝日期、拍攝時刻和拍攝位置高程，基于上述方法，實現對于不同日期、不同時間、不同地點拍攝的地球靜止軌道衛(wèi)星光學遙感圖像的太陽光照補償值計算。圖3示意性示出了根據本發(fā)明一示例性實施例的太陽光照補償值計算裝置的框圖，如圖3所示，該裝置300例如可以包括獲取模塊310、***計算模塊320、第二計算模塊330和第三計算模塊340。這一新設備利用了聚光光伏(CPV)電池板，利用透鏡將太陽光集中到微小尺度的太陽能電池上。

5)反應性濺鍍制備吸收膜：在第五真空鍍膜室中，氬離子撞擊靶材，撞擊出來的鉻離子與通入的氧氣發(fā)生化學反應生成氧化鉻，反應生成的氧化鉻沉積在步驟4)制得的過渡膜的外表面上形成吸收膜；6)反應性濺鍍制備抗反射膜：在第六真空鍍膜室中，氬離子撞擊靶材，撞擊出來的硅離子與通入的氧氣發(fā)生化學反應生成二氧化硅，反應生成的二氧化硅沉積在步驟5)制得的吸收膜的外表面上形成抗反射膜，完成后在吸熱體的基材的外表面上制得包括6層的膜層。在本申請的一個實施例中，步驟1)中，靶材為鉻靶，氬氣流量為50～200sccm，氧氣流量為10～200sccm，制得的強化膜的厚度為30～120nm。本發(fā)明實施例的目的在于提供一種用于選擇性吸收太陽光譜的膜層的制備方法。AM1.5太陽光譜模擬公司

為使本發(fā)明實施例的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結合本發(fā)明實施例。北京生產太陽光譜模擬銷量

示意性示出了本發(fā)明實施例太陽光照補償值計算方法的流程圖，如圖1所示，該方法例如可以包括操作s1～s1。s1，獲取地球靜止軌道衛(wèi)星光學遙感圖像尺寸、地理經度區(qū)間、地理緯度區(qū)間、拍攝日期、拍攝時刻和拍攝位置高程。該尺寸包括地球靜止軌道衛(wèi)星光學遙感圖像的長或寬，例如，獲取一幅大小為x×y的地球靜止軌道衛(wèi)星光學遙感圖像。地理經度區(qū)間、地理緯度區(qū)間、拍攝日期、拍攝時刻和拍攝位置高程例如可以從數據庫中獲取。s2，根據地球靜止軌道衛(wèi)星光學遙感圖像尺寸、地理經度區(qū)間、地理緯度區(qū)間、拍攝日期、拍攝時刻和拍攝位置高程，計算地球靜止軌道衛(wèi)星光學遙感圖像拍攝位置的太陽直接輻射強度和太陽散射輻射強度。北京生產太陽光譜模擬銷量

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