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在電子組裝行業(yè),有許多可用的方法可以來(lái)評(píng)估組件表面的電化學(xué)遷移傾向。根據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試將繼續(xù)為SIR。這是因?yàn)樵摐y(cè)試**接近組件的正常使用壽命中導(dǎo)致電化學(xué)遷移的條件,而且它考慮了所有促進(jìn)電化學(xué)遷移機(jī)制的四個(gè)因素之間的相互作用。當(dāng)測(cè)試集中在一個(gè)或一些因素上時(shí),例如測(cè)試離子含量,它們可能表明每個(gè)組件上離子種類的變化,但它們不能直接評(píng)估電化學(xué)遷移的傾向。在銅、電壓、濕度和離子含量之間的相互作用中存在著一些關(guān)鍵因素,電解會(huì)導(dǎo)致枝晶生長(zhǎng),這將繼續(xù)推動(dòng)測(cè)試的最佳實(shí)踐朝著直接測(cè)試表面絕緣電阻的方向發(fā)展。事實(shí)上,助焊劑殘?jiān)泻写罅康碾x子,局部萃取試驗(yàn)很快就超過(guò)了電阻率極限。在未清洗板上有幾種離子濃度很高??偟膩?lái)說(shuō),這是一個(gè)非常極端的比較,因?yàn)楦锌赡苁遣糠智逑炊皇峭耆辞逑?。這加強(qiáng)了必須清洗使用了水溶性焊錫膏組件的重要性。采用數(shù)字式萬(wàn)用表進(jìn)行電阻測(cè)試,能自動(dòng)進(jìn)行量程切換,提高便捷性。東莞表面絕緣SIR電阻測(cè)試市場(chǎng)
廣州維柯信息技術(shù)有限公司的SIR表面絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng),集成了行業(yè)的測(cè)量技術(shù),實(shí)現(xiàn)了檢測(cè)精度與測(cè)試效率的雙重提升。該系統(tǒng)采用高靈敏度傳感器,每秒20ms/所有通道的速度即便是在低電阻范圍內(nèi)也能準(zhǔn)確讀取數(shù)據(jù),誤差率極低,確保了測(cè)試結(jié)果的科學(xué)性和可靠性。同時(shí),其內(nèi)置的算法能迅速處理大量數(shù)據(jù),縮短測(cè)試周期,對(duì)于大規(guī)模生產(chǎn)線上追求快速反饋和質(zhì)量控制的企業(yè)來(lái)說(shuō),無(wú)疑是提升競(jìng)爭(zhēng)力的利器。廣州維柯SIR系統(tǒng),以精度與速度,平齊行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。廣東CAF電阻測(cè)試性價(jià)比使用萬(wàn)用表進(jìn)行電阻測(cè)試前,需確保儀器校準(zhǔn)準(zhǔn)確,避免誤差。
熱沖擊模式可收錄溫度循環(huán)中的低溫區(qū)/高溫區(qū)中各1點(diǎn)數(shù)據(jù)。該模式***于使用溫濕度模塊時(shí)。(a)由于,溫濕度箱和測(cè)試系統(tǒng)是用不同的傳感器測(cè)量溫度的,因此,多少會(huì)產(chǎn)生溫度偏差。(同一位置傳感器的偏差在±2℃以內(nèi))(b)測(cè)試值以高溫限定值和低溫限定值的設(shè)定值為基點(diǎn),在任意設(shè)定的收錄待機(jī)時(shí)間后,在各溫度下,測(cè)量1次,(將高溫及低溫作為1個(gè)循環(huán),各測(cè)1次)各限定值的基準(zhǔn)以5℃左右內(nèi)為目標(biāo)進(jìn)行設(shè)定,而不是溫濕度箱的設(shè)定溫度。另外,將各試驗(yàn)時(shí)間(高溫時(shí)間、低溫時(shí)間)的一半作為目標(biāo)設(shè)定收錄待機(jī)時(shí)間。
PCB(PrintedCircuitBoard)即印制電路板,又稱印刷線路板,是電子工業(yè)的關(guān)鍵部件。它由絕緣底板、連接導(dǎo)線和焊盤組成,能實(shí)現(xiàn)電子元器件間的電氣連接,還為元器件提供機(jī)械支撐。憑借可高密度化、高可靠性、可設(shè)計(jì)性、可生產(chǎn)性、可測(cè)試性、可組裝性和可維護(hù)性等優(yōu)勢(shì),PCB廣泛應(yīng)用于計(jì)算機(jī)、通信、汽車電子、醫(yī)療設(shè)備等眾多領(lǐng)域。從類型上看,按層數(shù)可分為單面板、雙面板和多層板;按軟硬程度分為剛性電路板、柔性電路板以及軟硬結(jié)合板。目前,PCB正朝著高密度、高精度、細(xì)孔徑、細(xì)導(dǎo)線、高可靠、多層化、高速傳輸、輕量薄型的方向發(fā)展。PCB層疊結(jié)構(gòu)分類,單層PCB結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,*一面有銅箔,成本低,用于簡(jiǎn)單電路雙層PCB有頂層和底層導(dǎo)電層,通過(guò)過(guò)孔相連,應(yīng)用***多層PCB包含多個(gè)導(dǎo)電層,通過(guò)層間過(guò)孔連接,集成度高電阻測(cè)試不僅限于靜態(tài)測(cè)量,動(dòng)態(tài)負(fù)載下的變化也需關(guān)注。
作為電子可靠性測(cè)試領(lǐng)域的技術(shù)先鋒,維柯科技深耕SIR/CAF絕緣電阻測(cè)試與TCT低阻測(cè)試領(lǐng)域逾十年,以“全場(chǎng)景覆蓋、全精度適配”的產(chǎn)品矩陣,為半導(dǎo)體、PCB、新能源等行業(yè)提供一站式測(cè)控解決方案。m作為國(guó)內(nèi)首批自主研發(fā)SIR/CAF絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)的企業(yè),我們以12年技術(shù)積淀打造全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)產(chǎn)品。**模塊采用**恒壓源與超微型電流表設(shè)計(jì),單通道**控制,精細(xì)捕捉1pA級(jí)電流信號(hào),電阻測(cè)量范圍覆蓋1×10?Ω至1×101?Ω,精度比較高達(dá)±2%(1×10?-1×10?Ω區(qū)間)。模塊化架構(gòu)支持16通道/模塊靈活擴(kuò)展,單模塊故障*需替換,不影響其他通道運(yùn)行,搭配多任務(wù)并發(fā)測(cè)試功能,可在25天長(zhǎng)期測(cè)試中同步啟動(dòng)新任務(wù),效率提升300%。數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)存儲(chǔ)、曲線可視化及失效智能提醒,為**電子可靠性測(cè)試提供全流程保障。 電阻值隨時(shí)間變化的現(xiàn)象稱為老化,定期測(cè)試可監(jiān)測(cè)此現(xiàn)象。貴州智能電阻測(cè)試銷售廠家
電阻測(cè)試不僅是質(zhì)量把控手段,也是研發(fā)階段的重要驗(yàn)證步驟。東莞表面絕緣SIR電阻測(cè)試市場(chǎng)
測(cè)試模式:1)熱沖擊式2)溫度定值式3)無(wú)溫度判定式熱沖擊模式(1)可收錄溫度循環(huán)中的低溫區(qū)/高溫區(qū)中各1點(diǎn)數(shù)據(jù)。該模式***于使用溫度模塊時(shí)。(a)由于溫沖箱和測(cè)試系統(tǒng)是用不同的傳感器測(cè)量溫度的,因此,多少會(huì)產(chǎn)生溫度偏差。(b)測(cè)試值以高溫限定值和低溫限定值的設(shè)定值為基點(diǎn),在任意設(shè)定的收錄間隔時(shí)間后,在各溫度下,測(cè)量1次,(將高溫及低溫作為1個(gè)循環(huán),各測(cè)1次)各限定值的基準(zhǔn)以5℃左右內(nèi)為目標(biāo)進(jìn)行設(shè)定,而不是溫沖箱的設(shè)定溫度。另外,將各試驗(yàn)時(shí)間(高溫時(shí)間、低溫時(shí)間)的一半作為目標(biāo)設(shè)定收錄間隔時(shí)間。注)因?yàn)?,測(cè)試系統(tǒng)上搭載的測(cè)試模塊的數(shù)量會(huì)變動(dòng),所以,請(qǐng)不要在溫沖箱的溫度保持時(shí)間結(jié)束后的3分鐘后設(shè)定數(shù)據(jù)收錄間隔時(shí)間。東莞表面絕緣SIR電阻測(cè)試市場(chǎng)