一、根據(jù)一個芯片上集成的微電子器件的數(shù)量，集成電路可以分為以下幾類：小型集成電路（SSI英文全名為Small Scale Integration）邏輯門10個以下或 晶體管100個以下。中型集成電路（MSI英文全名為Medium Scale Integration）邏輯門11~100個或 晶體管101~1k個。大規(guī)模集成電路（LSI英文全名為Large Scale Integration）邏輯門101~1k個或 晶體管1,001~10k個。超大規(guī)模集成電路（VLSI英文全名為Very large scale integration）邏輯門1,001~10k個或 晶體管10,001~100k個。在一個自排列（CMOS）過程中，所有門層（多晶硅或金屬）穿過擴散層的地方形成晶體管。楊浦區(qū)優(yōu)勢電阻芯片生產企業(yè)

管腳數(shù):A—8；B—10﹔C—12，192；D—14；E—16；F——22，256；G—4；H—4；I—28 ；J—2；K—5，68；L—40；M—6，48；N—18；O—42；P—20﹔Q—2，100﹔R—3，843；S——4，80；T—6，160；U—60；V—8(圓形)﹔ W—10(圓形)﹔X—36；Y—8(圓形)﹔Z—10(圓形)。注:接口類產品四個字母后綴的***個字母是E，則表示該器件具備抗靜電功能**早的集成電路使用陶瓷扁平封裝，這種封裝很多年來因為可靠性和小尺寸繼續(xù)被軍方使用。商用電路封裝很快轉變到雙列直插封裝，開始是陶瓷，之后是塑料。20世紀80年代，VLSI電路的針腳超過了DIP封裝的應用限制，***導致插針網格數(shù)組和芯片載體的出現(xiàn)。上海本地電阻芯片量大從優(yōu)電容結構，由于尺寸限制，在IC上只能產生很小的電容。

更為少見的電感結構，可以制作芯片載電感或由回旋器模擬。因為CMOS設備只引導電流在邏輯門之間轉換，CMOS設備比雙極型組件（如雙極性晶體管）消耗的電流少很多。透過電路的設計，將多顆的晶體管管畫在硅晶圓上，就可以畫出不同作用的集成電路。隨機存取存儲器是**常見類型的集成電路，所以密度比較高的設備是存儲器，但即使是微處理器上也有存儲器。盡管結構非常復雜－幾十年來芯片寬度一直減少－但集成電路的層依然比寬度薄很多。組件層的制作非常像照相過程。雖然可見光譜中的光波不能用來曝光組件層，因為他們太大了。高頻光子（通常是紫外線）被用來創(chuàng)造每層的圖案。因為每個特征都非常小，對于一個正在調試制造過程的過程工程師來說，電子顯微鏡是必要工具。

封裝----指出產品的封裝和管腳數(shù)有些IC型號還會有其它內容:速率----如memory，MCU，DSP，F(xiàn)PGA 等產品都有速率區(qū)別，如-5，-6之類數(shù)字表示。工藝結構----如通用數(shù)字IC有COMS和TL兩種，常用字母C，T來表示。是否環(huán)保-----一般在型號的末尾會有一個字母來表示是否環(huán)保，如z，R，+等。包裝-----顯示該物料是以何種包裝運輸?shù)?，如tube，T/R，rail，tray等。版本號----顯示該產品修改的次數(shù)，一般以M為***版本。IC命名、封裝常識與命名規(guī)則溫度范圍：IC的成熟將會帶來科技，不止是在設計的技術上，還有半導體的工藝突破，兩者都是必須的一環(huán)。

表面貼著封裝在20世紀80年代初期出現(xiàn)，該年代后期開始流行。它使用更細的腳間距，引腳形狀為海鷗翼型或J型。以Small-Outline Integrated Circuit（SOIC）為例，比相等的DIP面積少30-50%，厚度少70%。這種封裝在兩個長邊有海鷗翼型引腳突出，引腳間距為0.05英寸。Small-Outline Integrated Circuit（SOIC）和PLCC封裝。20世紀90年代，盡管PGA封裝依然經常用于**微處理器。PQFP和thin small-outline package（TSOP）成為高引腳數(shù)設備的通常封裝。Intel和AMD的**微處理從P***ine Grid Array）封裝轉到了平面網格陣列封裝（Land Grid Array，LGA）封裝。到了20世紀中后期半導體制造技術進步，使得集成電路成為可能。青浦區(qū)本地電阻芯片私人定做

超大規(guī)模集成電路（VLSI英文全名為Very large scale integration）邏輯門1,001~10k個或 晶體管10,001~100k個。楊浦區(qū)優(yōu)勢電阻芯片生產企業(yè)

這種方法容易實施但無法檢測出非功能性影響的故障。結構測試是對內建測試的改進，它結合了掃描技術，多用于對生產出來的芯片進行故障檢驗。缺陷故障測試基于實際生產完成的芯片，通過檢驗芯片的生產工藝質量來發(fā)現(xiàn)是否包含故障。缺陷故障測試對專業(yè)技術人員的知識和經驗都要求很高。芯片廠商通常會將這四種測試技術相結合，以保障集成電路芯片從設計到生產再到應用整個流程的可靠性和安全性。壓診斷出現(xiàn)較早且運用較廣。電壓測試的觀測信息是被測電路的邏輯輸出值。楊浦區(qū)優(yōu)勢電阻芯片生產企業(yè)

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