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THC-50V-10200uF-K-C08

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-10-20

形成液:電導(dǎo)率高,氧化效果好,但是形成液的閃火電壓低;電導(dǎo)率低,氧化效果差,但是形成液的閃火電壓高,陽(yáng)極塊不容易晶化、擊穿。目前的磷酸稀水溶液只能適合形成電壓200V以下,如果要形成200V以上的產(chǎn)品,應(yīng)改用乙二醇稀水溶液,該溶液閃火電壓高,抑制晶化能力強(qiáng),但是乙二醇不容易煮洗干凈,被膜損耗要微增加。一般情況下,CA42形成電壓不會(huì)超過(guò)200V,只要用磷酸稀水溶液就可以了。h)恒壓時(shí)間:鉭塊越小,恒壓時(shí)間越短,鉭塊越大,恒壓時(shí)間越長(zhǎng),詳見(jiàn)工藝文件。原則:結(jié)束電流要很小,基本上穩(wěn)定不再下降為止,具體數(shù)值要看平時(shí)積累數(shù)據(jù)。鉭電容的電壓和電容值等參數(shù)可以在制造商提供的技術(shù)規(guī)范中找到,以確保其在電路中的正確應(yīng)用。THC-50V-10200uF-K-C08

THC-50V-10200uF-K-C08,鉭電容

推薦的鉭電容器安裝方法鉭電容器若安裝固定不當(dāng)或固定效果差,都容易使整機(jī)在機(jī)械應(yīng)力(振動(dòng)、沖擊)作用下,導(dǎo)致鉭電容器引線承鉭電解電容器應(yīng)用指導(dǎo)受絕大部分機(jī)械應(yīng)力或共振,**終導(dǎo)致其斷裂,產(chǎn)品失效。(1)軸向引出鉭電解電容器A軸向引出產(chǎn)品的母體必須與線路板緊配合,盡量無(wú)縫隙,然后用膠或樹(shù)脂固定,否則機(jī)械應(yīng)力產(chǎn)生共振導(dǎo)致引線斷裂失效。B引線彎折處離本或(焊點(diǎn))6mm以上,并有R(R至少為線徑的2倍),彎折處不能有傷痕。C大殼號(hào)產(chǎn)品,由于本體重,在振動(dòng)環(huán)境中,引線無(wú)法承受全部應(yīng)力。安裝時(shí)本體必須加固,否則機(jī)械應(yīng)力易振斷引線失效,推薦的緊固件。(2)單向引出鉭電解電容器(3)在不影響整體線路設(shè)計(jì)的前堤下,建議線路板上安裝的元器件勻分布;若分布的元器件一邊輕,一邊重,整機(jī)做機(jī)械試驗(yàn)容易產(chǎn)生共振而易導(dǎo)致產(chǎn)品引線斷裂失效。CAK37F-100V-560uF-K-C05鉭電容的容量范圍廣,從幾皮法拉到幾百微法拉,適合不同電路的需求。

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耗散因子(DF值)耗散因子是決定電容內(nèi)部功率耗散的一個(gè)物理量,越小越好,一般DF值隨頻率增加而增加。損耗大小對(duì)產(chǎn)品使用影響及可靠性影響說(shuō)明:損耗(DF值)是表征鉭電容器本身電阻能夠造成的無(wú)效功耗比例的一個(gè)參數(shù),損耗較小的產(chǎn)品ESR也將較小。但損耗大小的微小差別不會(huì)對(duì)使用造成明顯影響,對(duì)工作狀態(tài)的產(chǎn)品的可靠性影響與容量偏差的影響相比較大,但與產(chǎn)品漏電流大小和ESR大小對(duì)使用時(shí)的可靠性的影響相比仍然較?。╇娏鞔笮『虴SR大小影響>損耗大小影響>容量偏差的影響),濾波時(shí)如果產(chǎn)品的損耗較大,濾波效果差一些。同時(shí),損耗較大的產(chǎn)品的抗浪涌能力也較差。3.4阻抗,等效串聯(lián)阻抗(ESR)&感抗ESR是決定電容濾波性能的一個(gè)重要指標(biāo),鉭電容的ESR主要是由引腳和內(nèi)部電極阻抗引起,是電容在高頻上表現(xiàn)的一個(gè)很重要的參數(shù),一般來(lái)講,同容量,同電壓值的鉭電容的ESR要低于電解電容,但要高于多層陶瓷電容,ESR隨著頻率和溫度的增加而減少,ESR=DF/WC。在諧振頻率以下,電容的阻抗是電容的容抗和ESR的矢量和,在電容產(chǎn)生諧振以后,電容的阻抗是電容的感抗和ESR矢量和。

電容失效模式,機(jī)理和失效特點(diǎn)對(duì)于鉭電容,失效與其他類型的電容一樣,也有電參數(shù)變化失效、短路失效和開(kāi)路失效三種。由于鉭電容的電性能穩(wěn)定,且有獨(dú)特的“自愈”特性,鉭電容鮮有參數(shù)變化引起的失效,鉭電容失效大部分是由于電路降額不足,反向電壓,過(guò)功耗導(dǎo)致,主要的失效模式是短路。另外,根據(jù)鉭電容的失效統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),鉭電容發(fā)生開(kāi)路性失效的情況也極少。因此,鉭電容失效主要表現(xiàn)為短路性失效。鉭電容短路性失效模式的機(jī)理是:固體鉭電容的介質(zhì)Ta2O5由于原材料不純或工藝中的原因而存在雜質(zhì)、裂紋、孔洞等疵點(diǎn)或缺陷,鉭塊在經(jīng)過(guò)高溫?zé)Y(jié)時(shí)已將大部分疵點(diǎn)或缺陷燒毀或蒸發(fā)掉,但仍有少量存在。在賦能、老煉等過(guò)程中,這些疵點(diǎn)在電壓、溫度的作用下轉(zhuǎn)化為場(chǎng)致晶化的發(fā)源地—晶核;在長(zhǎng)期作用下,促使介質(zhì)膜以較快的速度發(fā)發(fā)生物理、化學(xué)變化,產(chǎn)生應(yīng)力的積累,到一定時(shí)候便引起介質(zhì)局部的過(guò)熱擊穿。如果介質(zhì)氧化膜中的缺陷部位較大且集中,一旦在熱應(yīng)力和電應(yīng)力作用下出現(xiàn)瞬時(shí)擊穿,則很大的短路電流將使電容迅速過(guò)熱而失去熱平衡,鉭電容固有的“自愈”特性已無(wú)法修補(bǔ)氧化膜,從而導(dǎo)致鉭電容迅速擊穿失效。鉭電容在電子設(shè)備中的使用數(shù)量和類型需要根據(jù)設(shè)備的性能要求和使用環(huán)境等因素進(jìn)行合理規(guī)劃。

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事實(shí)上為了避免快充對(duì)智能手機(jī)、平板電腦和筆記本電腦的主控電路壽命產(chǎn)生影響,高性能的鉭電容是保證快充輸出波形穩(wěn)定的重要必要器件之一。與蘋果和三星為了避免鉭電容成本上升與產(chǎn)品缺貨導(dǎo)致的充電頭配件傾蝕利潤(rùn)不同,中國(guó)國(guó)產(chǎn)品牌不但不能放棄充電頭業(yè)務(wù),反而要以小型化高功率快充為改善用戶體驗(yàn)為切入點(diǎn),迅速提升自己品牌競(jìng)爭(zhēng)力,阻止自己的市場(chǎng)份額下滑。甚至在極端的條件下,即便是智能手機(jī)本體不賺錢,也要讓充電頭等手機(jī)配件賺錢來(lái)養(yǎng)活自己的智能手機(jī)業(yè)務(wù),所以現(xiàn)階段小型化快充充電頭對(duì)于中國(guó)國(guó)產(chǎn)品牌意義更加深遠(yuǎn)。目前全球市場(chǎng)的智能手機(jī)保有量快接近40億部,平板電腦產(chǎn)品保有量接近10億部,小型高功率快充市場(chǎng)的需求打開(kāi)后,這一項(xiàng)就讓傳統(tǒng)的鉭電容生產(chǎn)商在產(chǎn)能部署上措手不及。在維修鉭電容時(shí),需要遵循安全規(guī)范和操作流程,確保人員和設(shè)備的安全。GCA55-Z-20V-470uF-M

鉭電容的內(nèi)部結(jié)構(gòu)包括陽(yáng)極、陰極和電解質(zhì),其中陽(yáng)極是鉭材料制成的。THC-50V-10200uF-K-C08

鉭電容器使用時(shí)的生產(chǎn)過(guò)程因素導(dǎo)致的失效,很多用戶往往只注意到鉭電容器性能的選擇和設(shè)計(jì),而對(duì)于貼片鉭電容安裝使用時(shí)容易出現(xiàn)的問(wèn)題視而不見(jiàn);舉例如下;A,不使用自動(dòng)貼裝而使用手工焊接,產(chǎn)品不加預(yù)熱,直接使用溫度高于300度的電烙鐵較長(zhǎng)時(shí)間加熱電容器,導(dǎo)致電容器性能受到過(guò)高溫度沖擊而失效.B,手工焊接不使用預(yù)熱臺(tái)加熱,焊接時(shí)一出現(xiàn)冷焊和虛焊就反復(fù)使用烙鐵加熱產(chǎn)品.C,使用的烙鐵頭溫度甚至達(dá)到500度.這樣可以焊接很快,但非常容易導(dǎo)致片式元?dú)饧зN片鉭電容實(shí)際使用時(shí)的可靠性實(shí)際上可以通過(guò)計(jì)算得出來(lái),而我們的很多用戶使用時(shí)設(shè)計(jì)余量不夠,魯棒性很差,小批實(shí)驗(yàn)通過(guò)純屬僥幸,在批生產(chǎn)時(shí)出現(xiàn)一致性質(zhì)量問(wèn)題.此時(shí),問(wèn)題原因往往簡(jiǎn)單被推到電容器生產(chǎn)商身上,忽略對(duì)設(shè)計(jì)可靠性的查找.鉭電容器使用時(shí)的無(wú)故障間隔時(shí)間MTBF對(duì)于很多用戶來(lái)講還是一個(gè)陌生的概念.很多使用者對(duì)可靠性工程認(rèn)識(shí)膚淺.過(guò)于重視實(shí)驗(yàn)而忽略數(shù)學(xué)計(jì)算.導(dǎo)致分電路設(shè)計(jì)可靠性比整機(jī)可靠性低,因此,批量生產(chǎn)時(shí)不斷出現(xiàn)問(wèn)題.不懂得失效是一個(gè)概率問(wèn)題,非簡(jiǎn)單的個(gè)體問(wèn)題.實(shí)際上鉭電容器使用時(shí)容易出現(xiàn)的故障原因和現(xiàn)象還很多,無(wú)法在此一一論述.如果有使用時(shí)的新問(wèn)題,可以及時(shí)交流.THC-50V-10200uF-K-C08

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