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TI LM5160DNTR

來源: 發(fā)布時(shí)間:2022-06-15

IC芯片直流工作電壓測量法:主要是測出各引腳對地的直流工作電壓值;然后與標(biāo)稱值相比較,依此來判斷集成電路的好壞。用電壓測量法來判斷集成電路的好壞是檢修中比較常采用的方法之一,但要注意區(qū)別非故障性的電壓誤差。測量集成電路各引腳的直流工作電壓時(shí),如遇到個(gè)別引腳的電壓與原理圖或維修技術(shù)資料中所標(biāo)電壓值不符,不要急于斷定集成電路已損壞,應(yīng)該先排除以下幾個(gè)因素后再確定。所提供的標(biāo)稱電壓是否可靠,因?yàn)橛幸恍┱f明書,原理圖等資料上所標(biāo)的數(shù)值與實(shí)際電壓有較大差別,有時(shí)甚至是錯(cuò)誤的。IC芯片是將大量的微電子元器件形成的集成電路放在一塊塑基上,做成一塊芯片。TI LM5160DNTR

對于ic芯片采購廠家來說,除了是否積累了多年的供貨經(jīng)驗(yàn)之外,合作客戶是否足夠多,當(dāng)然也是很重要的事情。只要被市場認(rèn)可,并且有著好口碑以及豐富貨源的廠家,才能夠不斷給更多的客戶提供服務(wù)。朋友們還會好奇哪些方面的事情呢?相信發(fā)貨是否迅速,就是很多人都想要只弄清楚的問題了。如果需要等待很長時(shí)間才可以發(fā)貨,對于生產(chǎn)項(xiàng)目會有較大的影響。專業(yè)廠家都有著大量的庫存,因此可以保證現(xiàn)貨充足,當(dāng)然可以做到當(dāng)天發(fā)貨。簡單了解之后,對于如何選擇ic芯片采購廠家,以及發(fā)貨是否迅速且簡單,相信朋友們都會知道答案是什么了。也可以按照自己的需求找到滿意的廠家進(jìn)行合作了。TI TPS7A7002DDAR若IC芯片各引腳電壓正常,則一般認(rèn)為IC芯片正常。

IC芯片外觀檢測的方法有三種:一是傳統(tǒng)的手工檢測方法,主要靠目測,手工分檢,可靠性不高,檢測效率較低,勞動(dòng)強(qiáng)度大,檢測缺陷有疏漏,無法適應(yīng)大批量生產(chǎn)制造;二是基于激光測量技術(shù)的檢測方法,該方法對設(shè)備的硬件要求較高,成本相應(yīng)較高,設(shè)備故障率高,維護(hù)較為困難;三是基于機(jī)器視覺的檢測方法,這種方法由于檢測系統(tǒng)硬件易于集成和實(shí)現(xiàn)、檢測速度快、檢測精度高,而且使用維護(hù)較為簡便,因此,在芯片外觀檢測領(lǐng)域的應(yīng)用也越來越普遍,是IC芯片外觀檢測的一種發(fā)展趨勢。

從IC芯片設(shè)計(jì)開始,就應(yīng)考慮到如何測試,是否應(yīng)添加DFT【DesignforTest】設(shè)計(jì),是否可以通過設(shè)計(jì)功能自測試【FuncBIST】減少對外層電路和測試設(shè)備的依賴。在芯片開啟驗(yàn)證的時(shí)候,就應(yīng)考慮出具的測試向量,應(yīng)把驗(yàn)證的TestBench按照基于周期【Cyclebase】的方式來寫,這樣生成的向量也更容易轉(zhuǎn)換和避免數(shù)據(jù)遺漏等等。在芯片流片Tapout階段,芯片測試的方案就應(yīng)制定完畢,ATE測試的程序開發(fā)與CP/FT硬件制作同步執(zhí)行,確保芯片從晶圓產(chǎn)線下來就開啟調(diào)試,把芯片開發(fā)周期極大的縮短。IC芯片在封裝工序之后,必須要經(jīng)過嚴(yán)格地檢測才能保證產(chǎn)品的質(zhì)量。

目前常見的IC芯片封裝有兩種,一種是電動(dòng)玩具內(nèi)常見的,黑色長得像蜈蚣的DIP封裝,另一為購買盒裝CPU時(shí)常見的BGA 封裝。至于其他的封裝法,還有早期CPU使用的PGA或是DIP的改良版QFP(塑料方形扁平封裝)等。因?yàn)橛刑喾N封裝法,以下將對DIP以及BGA封裝做介紹。傳統(tǒng)封裝,歷久不衰:首先要介紹的是雙排直立式封裝(DualInlinePackage;DIP),采用此封裝的IC芯片在雙排接腳下,看起來會像條黑色蜈蚣,讓人印象深刻,此封裝法為較早采用的IC封裝技術(shù),具有成本低廉的優(yōu)勢,適合小型且不需接太多線的芯片。為了掌握ic交流信號的變化情況,可以用帶有插孔的萬用表對ic的交流工作電壓進(jìn)行近似測量。TI DP83867IRPAPR

ic芯片廠家對于芯片的生產(chǎn)、制作都有極大的支持,因此生產(chǎn)的效率是很值得信賴的。TI LM5160DNTR

一般原理上所標(biāo)的直流電壓都以測試儀表的內(nèi)阻大于20KΩ/V進(jìn)行測試的。內(nèi)阻小于20KΩ/V的萬用表進(jìn)行測試時(shí),將會使被測結(jié)果低于原來所標(biāo)的電壓。另外,還應(yīng)注意不同電壓檔上所測的電壓會有差別,尤其用大量程檔,讀數(shù)偏差影響更顯著。當(dāng)測得某一引腳電壓與正常值不符時(shí),應(yīng)根據(jù)該引腳電壓對IC芯片正常工作有無重要影響以及其他引腳電壓的相應(yīng)變化進(jìn)行分析,才能判斷IC芯片的好壞。若IC芯片各引腳電壓正常,則一般認(rèn)為IC芯片正常;若IC芯片部分引腳電壓異常,則應(yīng)從偏離正常值較大處入手,進(jìn)口泵檢查外層元件有無故障,若無故障,則IC芯片很可能損壞。TI LM5160DNTR

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