以AgAl-Al2O3金屬陶瓷薄膜作為吸收層，成功構(gòu)建了AgAl-Al2O3太陽(yáng)光譜選擇性吸收涂層。在氮?dú)鈿夥障陆?jīng)500℃退火1002 h，其太陽(yáng)光譜吸收率穩(wěn)定在95%左右，400℃紅外發(fā)射率約在10-11%，如圖1所示（Advanced Materials Interfaces 2016, 3, 1600248）。   目前國(guó)內(nèi)外研究人員積極開(kāi)發(fā)基于熔融鹽（如60% KNO3+40% NaNO3）熱工質(zhì)的高溫太陽(yáng)能熱發(fā)電系統(tǒng)，其工作溫度常在550℃以上，客觀上對(duì)太陽(yáng)光譜選擇性吸收涂層提出了更為苛刻的要求，如何獲得600℃下具備優(yōu)異熱穩(wěn)定性的太陽(yáng)光譜選擇性吸收涂層是亟需攻克的難題之一。此外，經(jīng)檢測(cè)，本申請(qǐng)制備的膜層的吸收率為93％～97％，比現(xiàn)有技術(shù)中膜層的吸收率提高了3％～9％。湖南下打光太陽(yáng)光譜模擬低價(jià)

可選地，根據(jù)地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像尺寸、地理經(jīng)度區(qū)間、地理緯度區(qū)間、拍攝日期、拍攝時(shí)刻及拍攝位置高程，計(jì)算地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像拍攝位置的太陽(yáng)直接輻射強(qiáng)度和太陽(yáng)散射輻射強(qiáng)度，包括：根據(jù)地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像尺寸、地理經(jīng)度區(qū)間、地理緯度區(qū)間，計(jì)算地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像中每個(gè)像素對(duì)應(yīng)的地理經(jīng)度和地理緯度；根據(jù)拍攝日期，計(jì)算拍攝日期對(duì)應(yīng)的太陽(yáng)赤緯角及大氣層上界垂直入射時(shí)的太陽(yáng)輻射強(qiáng)度；根據(jù)拍攝時(shí)刻和地理經(jīng)度，計(jì)算拍攝時(shí)刻的太陽(yáng)時(shí)角；根據(jù)太陽(yáng)赤緯角、太陽(yáng)時(shí)角和地理緯度，計(jì)算拍攝時(shí)刻的太陽(yáng)高度角；根據(jù)太陽(yáng)高度角和拍攝位置高程，計(jì)算相對(duì)大氣光學(xué)質(zhì)量；根據(jù)相對(duì)大氣光學(xué)質(zhì)量，計(jì)算直射輻射大氣透明度系數(shù)，并根據(jù)直射輻射大氣透明度系數(shù)，計(jì)算散射輻射大氣透明度系數(shù)；根據(jù)大氣層上界垂直入射時(shí)的太陽(yáng)輻射強(qiáng)度、直射輻射大氣透明度系數(shù)和太陽(yáng)高度角，計(jì)算太陽(yáng)直接輻射強(qiáng)度；根據(jù)散射輻射大氣透明度系數(shù)和太陽(yáng)高度角，計(jì)算太陽(yáng)散射輻射強(qiáng)度。寧夏AM1太陽(yáng)光譜模擬銷(xiāo)量如何提高吸熱體的基材的外表面上的薄膜對(duì)太陽(yáng)熱能的吸收，提高光熱轉(zhuǎn)換的效率。

正因?yàn)槿绱耍瑏?lái)自太陽(yáng)圓盤(pán)一側(cè)的光會(huì)因多普勒效應(yīng)而紅移，而另一側(cè)的光會(huì)藍(lán)移。我們可以觀察和理解這些位移，因?yàn)樘?yáng)譜線波長(zhǎng)相對(duì)于大氣氧線的位移——地球大氣吸收產(chǎn)生的氧線相對(duì)于望遠(yuǎn)鏡是靜止的。從太陽(yáng)圓盤(pán)邊緣到邊緣的比較大多普勒頻移只有~8pm，因此HF-8989-3的儀器分辨率（~1pm），對(duì)于測(cè)試時(shí)必要的。同時(shí)，LightMachinery光譜儀的快速采集速率也非常有利于這類(lèi)測(cè)量。與其建立一個(gè)復(fù)雜的成像系統(tǒng)來(lái)顯示耦合到光譜儀光纖中的太陽(yáng)圓盤(pán)部分，不如簡(jiǎn)單地設(shè)置SpectraLoK軟件，在望遠(yuǎn)鏡從一個(gè)分支掃描到另一個(gè)分支時(shí)，每100毫秒記錄一次新的光譜。

陽(yáng)光是一種**度、易獲得的光源，包括數(shù)千個(gè)“內(nèi)置”的校準(zhǔn)光譜特征。許多研究都需要用到這種質(zhì)量的光源，例如日光誘導(dǎo)葉綠素?zé)晒?；植被，作物和礦物的地物光譜，高光譜，以及多光譜測(cè)試；地球大氣層研究等等。LightMachinery的高分辨率光譜儀，不但可以用來(lái)測(cè)試太陽(yáng)光譜，也可以利用其高分辨率測(cè)試的夫朗和費(fèi)線反演太陽(yáng)自轉(zhuǎn)，大氣水汽等等。顯示太陽(yáng)光譜**直接的方法是將直射陽(yáng)光耦合到連接到光譜儀輸入端口的光纖中。某些型號(hào)的LightMachinery光譜儀提供了必要的光通量和靈敏度來(lái)記錄太陽(yáng)光譜，只需將光纖端部大致對(duì)準(zhǔn)太陽(yáng)的方向即可。膜層包括6層，從下到上依次為氧化鉻材質(zhì)的強(qiáng)化膜。

示意性示出了本發(fā)明實(shí)施例太陽(yáng)光照補(bǔ)償值計(jì)算方法的流程圖，如圖1所示，該方法例如可以包括操作s1～s1。s1，獲取地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像尺寸、地理經(jīng)度區(qū)間、地理緯度區(qū)間、拍攝日期、拍攝時(shí)刻和拍攝位置高程。該尺寸包括地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像的長(zhǎng)或?qū)挘?，獲取一幅大小為x×y的地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像。地理經(jīng)度區(qū)間、地理緯度區(qū)間、拍攝日期、拍攝時(shí)刻和拍攝位置高程例如可以從數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取。s2，根據(jù)地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像尺寸、地理經(jīng)度區(qū)間、地理緯度區(qū)間、拍攝日期、拍攝時(shí)刻和拍攝位置高程，計(jì)算地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像拍攝位置的太陽(yáng)直接輻射強(qiáng)度和太陽(yáng)散射輻射強(qiáng)度。為了得到高質(zhì)量的化合物薄膜，通常在濺鍍金屬靶時(shí)，通入與被濺射出的物質(zhì)反應(yīng)的氣體。河南太陽(yáng)光譜模擬銷(xiāo)量

本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N用于選擇性吸收太陽(yáng)光譜的膜層的制備方法，包括以下依次進(jìn)行的步驟。湖南下打光太陽(yáng)光譜模擬低價(jià)

根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的模塊、單元中的任意多個(gè)、或其中任意多個(gè)的至少部分功能可以在一個(gè)模塊中實(shí)現(xiàn)。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的模塊、單元中的任意一個(gè)或多個(gè)可以被拆分成多個(gè)模塊來(lái)實(shí)現(xiàn)。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的模塊、單元中的任意一個(gè)或多個(gè)可以至少被部分地實(shí)現(xiàn)為硬件電路，例如現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(fpga)、可編程邏輯陣列(pla)、片上系統(tǒng)、基板上的系統(tǒng)、封裝上的系統(tǒng)、**集成電路(asic)，或可以通過(guò)對(duì)電路進(jìn)行集成或封裝的任何其他的合理方式的硬件或固件來(lái)實(shí)現(xiàn)，或以軟件、硬件以及固件三種實(shí)現(xiàn)方式中任意一種或以其中任意幾種的適當(dāng)組合來(lái)實(shí)現(xiàn)?；蛘撸鶕?jù)本發(fā)明實(shí)施例的模塊、單元中的一個(gè)或多個(gè)可以至少被部分地實(shí)現(xiàn)為計(jì)算機(jī)程序模塊，當(dāng)該計(jì)算機(jī)程序模塊被運(yùn)行時(shí)，可以執(zhí)行相應(yīng)的功能。湖南下打光太陽(yáng)光譜模擬低價(jià)

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