溫度循環(huán)測(cè)試主要模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用中經(jīng)歷的溫度劇烈變化。測(cè)試過程中，讓產(chǎn)品在高溫與低溫環(huán)境間循環(huán)切換，例如從 - 40℃升溫至 85℃，每個(gè)溫度階段保持一定時(shí)長(zhǎng)，循環(huán)次數(shù)依據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)確定，可能是 50 次、100 次等。在每次循環(huán)的溫度穩(wěn)定階段，檢測(cè)產(chǎn)品功能與性能。以車載電子設(shè)備為例，在進(jìn)行溫度循環(huán)測(cè)試時(shí)，經(jīng)過多次循環(huán)后，設(shè)備的顯示屏出現(xiàn)花屏現(xiàn)象，經(jīng)拆解分析，是顯示屏與主板連接的排線在熱脹冷縮作用下，部分線路出現(xiàn)斷裂，這反映出排線的材料與結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)需優(yōu)化以適應(yīng)溫度變化。通過溫度循環(huán)測(cè)試，企業(yè)能夠提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在溫度變化環(huán)境下可能出現(xiàn)的問題，優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)，提高產(chǎn)品的可靠性。振動(dòng)測(cè)試關(guān)聯(lián)環(huán)境可靠性測(cè)試，用傳感器監(jiān)測(cè)設(shè)備在鹽霧環(huán)境下的振動(dòng)。靜安區(qū)環(huán)境可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

低溫存儲(chǔ)測(cè)試主要考察產(chǎn)品在低溫環(huán)境下存儲(chǔ)后的性能恢復(fù)情況。把產(chǎn)品放入低溫試驗(yàn)箱，設(shè)置低溫條件，如 -20℃、-40℃。產(chǎn)品在該低溫環(huán)境下存儲(chǔ)規(guī)定時(shí)間，如 24 小時(shí)。存儲(chǔ)結(jié)束后，將產(chǎn)品移至常溫環(huán)境，待溫度平衡后，***檢測(cè)產(chǎn)品各項(xiàng)性能。以一款戶外監(jiān)控?cái)z像頭為例，經(jīng)低溫存儲(chǔ)測(cè)試后，攝像頭的電池出現(xiàn)電量顯示異常問題，進(jìn)一步檢測(cè)發(fā)現(xiàn)是電池內(nèi)部電解液在低溫下黏稠度增加，離子傳導(dǎo)受阻，這提示需改進(jìn)電池低溫性能或?yàn)閿z像頭添加低溫加熱裝置。寶山區(qū)機(jī)械可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)疲勞測(cè)試搭配環(huán)境可靠性測(cè)試，在高低溫環(huán)境下監(jiān)測(cè)葉片，保障飛機(jī)飛行安全。

濕度測(cè)試是評(píng)估電子元器件在潮濕環(huán)境下可靠性的關(guān)鍵手段。聯(lián)華檢測(cè)的濕度測(cè)試，能夠模擬相對(duì)濕度從 20% 到 95% 的環(huán)境。在測(cè)試過程中，將電子元器件放置于濕度試驗(yàn)箱內(nèi)，設(shè)置特定的濕度和溫度條件，并保持一定的測(cè)試時(shí)間。期間，使用專業(yè)設(shè)備監(jiān)測(cè)電子元器件的性能變化，查看是否會(huì)出現(xiàn)短路、斷路、腐蝕等問題。例如，對(duì)于一些在潮濕環(huán)境中使用的智能家居設(shè)備，通過濕度測(cè)試發(fā)現(xiàn)部分設(shè)備的金屬外殼出現(xiàn)生銹跡象，內(nèi)部電路板部分焊點(diǎn)也有輕微腐蝕，導(dǎo)致信號(hào)傳輸不穩(wěn)定。這表明該設(shè)備在防潮設(shè)計(jì)方面存在不足，需要改進(jìn)。聯(lián)華檢測(cè)憑借專業(yè)的檢測(cè)技術(shù)，能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)這些由濕度引發(fā)的潛在風(fēng)險(xiǎn)，幫助企業(yè)提升產(chǎn)品在潮濕環(huán)境下的可靠性。

戶外照明燈具長(zhǎng)期暴露在自然環(huán)境中，受到陽光紫外線照射、雨水沖刷、風(fēng)沙侵蝕、溫度和濕度的大幅變化等多種惡劣氣候因素的影響，其耐候性直接決定了燈具的使用壽命和照明效果。聯(lián)華檢測(cè)為戶外照明燈具制造商提供專業(yè)的耐候性測(cè)試服務(wù)。測(cè)試時(shí)，將戶外照明燈具放置于多功能耐候性試驗(yàn)箱內(nèi)，該試驗(yàn)箱能夠模擬多種自然環(huán)境因素。通過氙燈模擬太陽輻射，精確控制光照強(qiáng)度和光譜分布，以再現(xiàn)陽光中的紫外線對(duì)燈具的影響；利用噴淋系統(tǒng)模擬雨水沖刷，控制噴淋的強(qiáng)度、時(shí)間和頻率；通過溫濕度控制系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)溫度和濕度的快速變化，模擬晝夜溫差和潮濕天氣。在測(cè)試過程中，聯(lián)華檢測(cè)定期對(duì)戶外照明燈具的各項(xiàng)性能進(jìn)行檢測(cè)。例如，使用照度計(jì)測(cè)量燈具的發(fā)光強(qiáng)度，查看是否因環(huán)境因素影響而降低；通過外觀檢查，觀察燈具外殼是否出現(xiàn)褪色、開裂、變形，燈罩是否出現(xiàn)發(fā)黃、模糊等現(xiàn)象；檢查燈具的電氣連接部位是否因受潮、腐蝕而出現(xiàn)接觸不良等問題。曾有一款戶外 LED 路燈在經(jīng)過 1000 小時(shí)的耐候性測(cè)試后，發(fā)光強(qiáng)度下降了 20%，燈具外殼出現(xiàn)明顯褪色和輕微開裂，燈罩也變得模糊不清。嚴(yán)格控制溫度、濕度、氣壓等參數(shù)，為可靠性測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性保駕護(hù)航。

振動(dòng)測(cè)試：在產(chǎn)品實(shí)際使用過程中，振動(dòng)環(huán)境較為常見，像汽車行駛時(shí)，車內(nèi)的電子設(shè)備會(huì)受到路面顛簸產(chǎn)生的振動(dòng)影響；機(jī)械運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)，其內(nèi)部的電子元器件也會(huì)處于振動(dòng)環(huán)境中。振動(dòng)測(cè)試的主要目的就是模擬這種實(shí)際的振動(dòng)環(huán)境，以此檢測(cè)電子元器件在振動(dòng)條件下的可靠性。聯(lián)華檢測(cè)配備了專業(yè)且先進(jìn)的振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)，該試驗(yàn)臺(tái)能夠產(chǎn)生不同頻率和振幅的振動(dòng)，可精確模擬多種復(fù)雜的振動(dòng)場(chǎng)景。在測(cè)試過程中，嚴(yán)格精確地控制振動(dòng)的頻率、振幅以及持續(xù)時(shí)間等關(guān)鍵參數(shù)，對(duì)電子元器件進(jìn)行精細(xì)的振動(dòng)加載。例如，對(duì)于車載電子設(shè)備，依據(jù)汽車行駛過程中的實(shí)際振動(dòng)情況，在振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)上設(shè)置相應(yīng)的頻率和振幅參數(shù)，模擬汽車在不同路況下的振動(dòng)狀態(tài)，檢測(cè)電子元器件是否會(huì)因振動(dòng)而出現(xiàn)松動(dòng)、損壞或者性能下降等問題。通過專業(yè)的監(jiān)測(cè)設(shè)備實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電子元器件在振動(dòng)過程中的各項(xiàng)性能數(shù)據(jù)，并運(yùn)用專業(yè)的分析方法對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行深入分析，聯(lián)華檢測(cè)能夠準(zhǔn)確判斷電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性狀況。根據(jù)測(cè)試結(jié)果，為企業(yè)提供具有針對(duì)性的改進(jìn)建議，幫助企業(yè)優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)，如增加固定裝置防止元器件松動(dòng)、改進(jìn)元器件的焊接工藝提高連接強(qiáng)度等，確保產(chǎn)品在復(fù)雜振動(dòng)環(huán)境下能夠穩(wěn)定可靠地運(yùn)行。沖擊測(cè)試模擬工程機(jī)械石塊撞擊，檢測(cè)部件抗沖擊能力，改進(jìn)設(shè)計(jì)。中山鹽霧可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

扭轉(zhuǎn)測(cè)試與環(huán)境可靠性測(cè)試協(xié)同，模擬潮濕、振動(dòng)環(huán)境，確保船舶傳動(dòng)軸穩(wěn)定。靜安區(qū)環(huán)境可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

電子芯片高溫反偏測(cè)試：電子芯片在各類電子產(chǎn)品里是專業(yè)部件，像手機(jī)、電腦等設(shè)備的運(yùn)行都依賴芯片。在高溫且有偏壓的工作環(huán)境下，芯片可靠性面臨考驗(yàn)。廣州聯(lián)華檢測(cè)開展高溫反偏測(cè)試，將芯片置于高溫試驗(yàn)箱，溫度常設(shè)定在 125℃，模擬芯片在高溫環(huán)境下工作，同時(shí)在芯片引腳施加反向偏置電壓。測(cè)試過程中，運(yùn)用高精度電流測(cè)量?jī)x，對(duì)芯片漏電流進(jìn)行不間斷監(jiān)測(cè)。因?yàn)楦邷睾头聪蚱珘簳?huì)加速芯片內(nèi)部缺陷暴露，漏電流一旦異常，就預(yù)示芯片可能出現(xiàn)問題。例如某款電腦 CPU 芯片在測(cè)試 500 小時(shí)后，漏電流數(shù)值開始上升，經(jīng)微觀分析，是芯片內(nèi)部晶體管的柵氧化層出現(xiàn)極細(xì)微***，導(dǎo)致電子有額外泄漏路徑。通過聯(lián)華檢測(cè)的此項(xiàng)測(cè)試，芯片制造商能提前察覺隱患，改進(jìn)芯片制造工藝，如優(yōu)化氧化層生長(zhǎng)條件，讓芯片在高溫工作環(huán)境下更穩(wěn)定可靠，保障電子產(chǎn)品長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。靜安區(qū)環(huán)境可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)