彎曲測(cè)試：彎曲測(cè)試主要評(píng)估產(chǎn)品的抗彎性能。聯(lián)華檢測(cè)在進(jìn)行彎曲測(cè)試時(shí)，根據(jù)產(chǎn)品的形狀和尺寸選擇合適的彎曲試驗(yàn)方法，如三點(diǎn)彎曲試驗(yàn)、四點(diǎn)彎曲試驗(yàn)等。以三點(diǎn)彎曲試驗(yàn)為例，將產(chǎn)品試樣放置在兩個(gè)支撐點(diǎn)上，在試樣的中間位置施加集中載荷，使試樣產(chǎn)生彎曲變形。通過(guò)測(cè)量試樣在不同載荷下的彎曲撓度以及觀察試樣是否出現(xiàn)裂紋、斷裂等情況，來(lái)評(píng)估產(chǎn)品的抗彎性能。例如，對(duì)于金屬板材、塑料管材等產(chǎn)品，彎曲測(cè)試能夠檢驗(yàn)其在承受彎曲力時(shí)的性能表現(xiàn)。彎曲測(cè)試結(jié)果有助于企業(yè)了解產(chǎn)品在彎曲工況下的可靠性，為產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和材料選擇提供參考依據(jù)。拉伸測(cè)試獲取機(jī)械材料關(guān)鍵力學(xué)指標(biāo)，助企業(yè)保障設(shè)備安全。無(wú)錫極端溫度可靠性測(cè)試公司

PCB 板 CAF 測(cè)試：當(dāng) PCB 板板面線路或板內(nèi)金屬通孔間距過(guò)近，在高溫高濕環(huán)境下，板材吸濕后，相鄰銅線或孔壁高低電壓電極間會(huì)出現(xiàn)電化性遷移之絕緣劣化情形，即導(dǎo)電陽(yáng)極絲（CAF）。CAF 現(xiàn)象會(huì)導(dǎo)致絕緣層劣化，甚至短路，嚴(yán)重影響設(shè)備性能和安全，在汽車電子、航空航天等高可靠性領(lǐng)域必須進(jìn)行專項(xiàng)驗(yàn)證。聯(lián)華檢測(cè)在 CAF 專項(xiàng)檢測(cè)方面處于行業(yè)專業(yè)水準(zhǔn)，擁有 16 臺(tái)多通道 SIR/CAF 實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn) 4000 + 通道同時(shí)量測(cè)。測(cè)試依據(jù) IPC-TM-650 標(biāo)準(zhǔn)，在 85°C/85% RH 環(huán)境下施加偏壓，持續(xù) 240-1000 小時(shí)，若阻值降至≤10?Ω 或下降 10 倍則判定為不合格，通過(guò)該測(cè)試能幫助企業(yè)定位 PCB 板絕緣失效風(fēng)險(xiǎn)。松江區(qū)高溫可靠性測(cè)試檢測(cè)公司失效分析在雙測(cè)試中，用專業(yè)設(shè)備確定螺栓在不同環(huán)境下的斷裂原因。

光伏組件耐候性測(cè)試：光伏組件多安裝于戶外，長(zhǎng)期經(jīng)受日曬、雨淋、風(fēng)沙及溫度大幅變化等惡劣氣候考驗(yàn)，耐候性是其重要性能指標(biāo)。聯(lián)華檢測(cè)依據(jù)相關(guān)國(guó)際、國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)光伏組件開展專業(yè)耐候性測(cè)試。利用氙燈老化試驗(yàn)箱模擬太陽(yáng)輻射，通過(guò)噴淋裝置模擬降雨，高低溫試驗(yàn)箱實(shí)現(xiàn)溫度循環(huán)變化。測(cè)試時(shí)，將光伏組件置于綜合試驗(yàn)系統(tǒng)內(nèi)，設(shè)定模擬真實(shí)環(huán)境的光照強(qiáng)度、溫度、濕度、降雨頻次等參數(shù)，持續(xù)測(cè)試數(shù)千小時(shí)。在測(cè)試過(guò)程中，定期檢測(cè)光伏組件的輸出功率、絕緣電阻、外觀等。例如，某批次光伏組件經(jīng) 2000 小時(shí)測(cè)試后，發(fā)現(xiàn)其表面封裝材料出現(xiàn)發(fā)黃、脆化現(xiàn)象，輸出功率下降 5%，經(jīng)分析是封裝材料耐紫外線性能不足。通過(guò)此類測(cè)試，能幫助光伏企業(yè)改進(jìn)組件封裝材料與工藝，提高光伏組件在復(fù)雜氣候條件下的可靠性與使用壽命，降低光伏發(fā)電系統(tǒng)維護(hù)成本。

電子芯片高低溫存儲(chǔ)測(cè)試：電子芯片在不同應(yīng)用場(chǎng)景下，面臨多樣的溫度環(huán)境。像汽車電子芯片，冬天車輛啟動(dòng)時(shí)芯片處于低溫環(huán)境，而在發(fā)動(dòng)機(jī)艙高溫工作時(shí)，芯片又要承受高溫。聯(lián)華檢測(cè)開展的高低溫存儲(chǔ)測(cè)試，能精細(xì)模擬此類極端溫度條件。測(cè)試時(shí)，將芯片放置于可精細(xì)控溫的高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)，按照芯片的使用環(huán)境要求，設(shè)置低溫如 - 40℃，高溫如 150℃，并讓芯片在相應(yīng)溫度下存儲(chǔ)一定時(shí)長(zhǎng)，如 48 小時(shí)或更長(zhǎng)。期間，運(yùn)用高精度的電學(xué)參數(shù)測(cè)試設(shè)備，在測(cè)試前后對(duì)芯片的關(guān)鍵電氣參數(shù)，如閾值電壓、漏電流、邏輯功能等進(jìn)行精確測(cè)量。曾經(jīng)有一款手機(jī)處理器芯片，在經(jīng)過(guò)高溫 125℃存儲(chǔ)測(cè)試后，出現(xiàn)部分邏輯門電路功能異常的情況。經(jīng)聯(lián)華檢測(cè)專業(yè)分析，是芯片內(nèi)部的金屬互連結(jié)構(gòu)在高溫下發(fā)生了輕微的原子遷移，導(dǎo)致電路連接性能下降。基于這樣的測(cè)試結(jié)果，芯片設(shè)計(jì)廠商可針對(duì)性地優(yōu)化芯片制造工藝，如改進(jìn)金屬互連材料或調(diào)整芯片的散熱設(shè)計(jì)，從而提升芯片在不同溫度存儲(chǔ)環(huán)境下的可靠性，保障搭載該芯片的電子產(chǎn)品穩(wěn)定運(yùn)行。壓縮測(cè)試在環(huán)境可靠性測(cè)試協(xié)同下，精確測(cè)量活塞在復(fù)雜環(huán)境下的變形。

電子芯片高溫反偏測(cè)試：電子芯片在各類電子產(chǎn)品里是專業(yè)部件，像手機(jī)、電腦等設(shè)備的運(yùn)行都依賴芯片。在高溫且有偏壓的工作環(huán)境下，芯片可靠性面臨考驗(yàn)。廣州聯(lián)華檢測(cè)開展高溫反偏測(cè)試，將芯片置于高溫試驗(yàn)箱，溫度常設(shè)定在 125℃，模擬芯片在高溫環(huán)境下工作，同時(shí)在芯片引腳施加反向偏置電壓。測(cè)試過(guò)程中，運(yùn)用高精度電流測(cè)量?jī)x，對(duì)芯片漏電流進(jìn)行不間斷監(jiān)測(cè)。因?yàn)楦邷睾头聪蚱珘簳?huì)加速芯片內(nèi)部缺陷暴露，漏電流一旦異常，就預(yù)示芯片可能出現(xiàn)問(wèn)題。例如某款電腦 CPU 芯片在測(cè)試 500 小時(shí)后，漏電流數(shù)值開始上升，經(jīng)微觀分析，是芯片內(nèi)部晶體管的柵氧化層出現(xiàn)極細(xì)微***，導(dǎo)致電子有額外泄漏路徑。通過(guò)聯(lián)華檢測(cè)的此項(xiàng)測(cè)試，芯片制造商能提前察覺(jué)隱患，改進(jìn)芯片制造工藝，如優(yōu)化氧化層生長(zhǎng)條件，讓芯片在高溫工作環(huán)境下更穩(wěn)定可靠，保障電子產(chǎn)品長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。工業(yè)自動(dòng)化傳輸設(shè)備經(jīng)拉伸磨損測(cè)試，確保連續(xù)運(yùn)行穩(wěn)定可靠。蘇州汽車零部件可靠性測(cè)試公司

壓縮測(cè)試模擬活塞受壓，評(píng)估抗壓能力，優(yōu)化發(fā)動(dòng)機(jī)部件設(shè)計(jì)。無(wú)錫極端溫度可靠性測(cè)試公司

濕度測(cè)試是評(píng)估電子元器件在潮濕環(huán)境下可靠性的關(guān)鍵手段。聯(lián)華檢測(cè)的濕度測(cè)試，能夠模擬相對(duì)濕度從 20% 到 95% 的環(huán)境。在測(cè)試過(guò)程中，將電子元器件放置于濕度試驗(yàn)箱內(nèi)，設(shè)置特定的濕度和溫度條件，并保持一定的測(cè)試時(shí)間。期間，使用專業(yè)設(shè)備監(jiān)測(cè)電子元器件的性能變化，查看是否會(huì)出現(xiàn)短路、斷路、腐蝕等問(wèn)題。例如，對(duì)于一些在潮濕環(huán)境中使用的智能家居設(shè)備，通過(guò)濕度測(cè)試發(fā)現(xiàn)部分設(shè)備的金屬外殼出現(xiàn)生銹跡象，內(nèi)部電路板部分焊點(diǎn)也有輕微腐蝕，導(dǎo)致信號(hào)傳輸不穩(wěn)定。這表明該設(shè)備在防潮設(shè)計(jì)方面存在不足，需要改進(jìn)。聯(lián)華檢測(cè)憑借專業(yè)的檢測(cè)技術(shù)，能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)這些由濕度引發(fā)的潛在風(fēng)險(xiǎn)，幫助企業(yè)提升產(chǎn)品在潮濕環(huán)境下的可靠性。無(wú)錫極端溫度可靠性測(cè)試公司