ICT測(cè)試要做到故障定位準(zhǔn)、測(cè)試穩(wěn)定，與電路和PCB設(shè)計(jì)有很大關(guān)系。原則上我們要求每一個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)都有測(cè)試點(diǎn)。電路設(shè)計(jì)要做到各個(gè)器件的狀態(tài)進(jìn)行隔離后，可互不影響。對(duì)邊界掃描、Nand-Tree的設(shè)計(jì)要安裝可測(cè)性要求。為了確保對(duì)電路板上的器件進(jìn)行功能測(cè)試，就必須強(qiáng)制驅(qū)動(dòng)器件的邏輯電平，各腳驅(qū)動(dòng)器必須能夠吸收或輸出足夠的電流。根據(jù)國(guó)際防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)文件（00-53/1）所推薦的后驅(qū)動(dòng)安全標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試儀的較大驅(qū)動(dòng)電流被設(shè)計(jì)為240mA，測(cè)試時(shí)間在200ms以內(nèi)。通過實(shí)驗(yàn)，基本能夠較好地對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行隔離，同時(shí)也確保了被測(cè)器件的安全性。功能測(cè)試系統(tǒng)有利于產(chǎn)品上市前的全方面驗(yàn)收。電子測(cè)試系統(tǒng)加工
操作系統(tǒng)，可供電路板測(cè)試選擇的操作系統(tǒng)很多，例如UNIX、OS、Windows、Solaris等，選擇操作系統(tǒng)時(shí)受限于硬件設(shè)備的支持、程序人員的技術(shù)水平、操作系統(tǒng)的普及程度和操作系統(tǒng)本身特點(diǎn)等諸多因素，趨于采用廣為普及的Windows操作系統(tǒng)?？偩€技術(shù)，電路板測(cè)試技術(shù)的發(fā)展與儀器控制總線的發(fā)展永遠(yuǎn)是密切相關(guān)的，儀器控制總線的每一次更新都促進(jìn)電路板測(cè)試技術(shù)的更新。儀器控制總線有GPIB總線、VXI總線和PXI總線三種，它們是發(fā)展過程中依次出現(xiàn)的總線技術(shù)，表示著電路板測(cè)試技術(shù)的發(fā)展歷程。GPIB總線是早期出現(xiàn)的儀器接口控制總線，多用于常見的臺(tái)式儀器上，采用該總線集成的系統(tǒng)體積大、數(shù)據(jù)傳輸速率低（較大數(shù)據(jù)傳輸速率為1MB/s）且同一系統(tǒng)總線上較多可連15臺(tái)儀器。上海在線測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商電池功能測(cè)試系統(tǒng)用于檢測(cè)電池性能和容量。
在上電路中，因R1、R2的連接分流，使Ix笽ref ，Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。測(cè)試時(shí)，只要使G與F點(diǎn)同電位，R2中無電流流過，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不變。將G點(diǎn)接地，因F點(diǎn)虛地，兩點(diǎn)電位相等，則可實(shí)現(xiàn)隔離。實(shí)際實(shí)用時(shí)，通過一個(gè)隔離運(yùn)算放大器使G與F等電位。ICT測(cè)試儀可提供很多個(gè)隔離點(diǎn)，消除外圍電路對(duì)測(cè)試的影響。IC的測(cè)試 對(duì)數(shù)字IC，采用Vector（向量）測(cè)試。向量測(cè)試類似于真值表測(cè)量，激勵(lì)輸入向量，測(cè)量輸出向量，通過實(shí)際邏輯功能測(cè)試判斷器件的好壞。如:與非門的測(cè)試對(duì)模擬IC的測(cè)試，可根據(jù)IC實(shí)際功能激勵(lì)電壓、電流，測(cè)量對(duì)應(yīng)輸出，當(dāng)作功能塊測(cè)試。
智能測(cè)試系統(tǒng)，作為先進(jìn)的測(cè)量手段，具有以下特點(diǎn)，多功能和多參數(shù)測(cè)量:由于由計(jì)算機(jī)，因而能計(jì)算出很多二次型參數(shù)。高重復(fù)性:由于進(jìn)行的每一次測(cè)量都是按同一程序控制進(jìn)行，避免了人為操作的誤差，重復(fù)性一致性高。自適應(yīng)處理能力:測(cè)量數(shù)據(jù)經(jīng)過一定的自適應(yīng)算法處理，給出被測(cè)系統(tǒng)的控制信號(hào)，能實(shí)現(xiàn)對(duì)一些過程的自適應(yīng)處理。自校準(zhǔn)和自診斷:一般智能測(cè)試系統(tǒng)都有自校準(zhǔn)和自診斷能力。利用標(biāo)準(zhǔn)元器件實(shí)行機(jī)上校準(zhǔn)，自動(dòng)給出誤差因子修正測(cè)量誤差。單元功能測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)試單一功能的設(shè)備。
自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)：① 被測(cè)單元機(jī)器接口，用來建立被測(cè)單元與控制器之間的聯(lián)系。②人機(jī)接口，用來建立控制器與操作人員之間的聯(lián)系。它可以是控制器的一部分，也可以是控制臺(tái)上的開關(guān)、鍵盤、指示燈、顯示器等。操作人員可通過鍵盤或開關(guān)把數(shù)據(jù)傳輸給控制器，控制器再把數(shù)據(jù)、結(jié)果和操作要求輸向陰極射線管、發(fā)光二極管或指示燈組等顯示器。必要時(shí)還可將測(cè)試結(jié)果輸給打印機(jī)，制成硬拷貝。③ 測(cè)量?jī)x表，用來測(cè)定被測(cè)單元的輸出信號(hào)。它可以是模數(shù)轉(zhuǎn)換器、頻率計(jì)數(shù)器、數(shù)字萬用表或其他測(cè)量裝置。④ 開關(guān)系統(tǒng)，用來規(guī)定被測(cè)單元與自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中其他部件之間的信號(hào)傳輸路線。環(huán)保型測(cè)試：功能測(cè)試系統(tǒng)在保證產(chǎn)品質(zhì)量的同時(shí)，降低能源消耗和環(huán)境污染。電子測(cè)試系統(tǒng)加工
可靠性試驗(yàn)：模擬各種惡劣環(huán)境，驗(yàn)證電子設(shè)備在極端條件下的可靠性。電子測(cè)試系統(tǒng)加工
操作簡(jiǎn)便:由于測(cè)量過程是程序操作，測(cè)試人員只需接入被測(cè)件和按電鍵，無需測(cè)試員具備高深的理論和熟練的測(cè)試技巧。測(cè)試設(shè)計(jì)主要是編制測(cè)試程序結(jié)論在智能測(cè)試系統(tǒng)中，為要完成各式各樣的測(cè)試任務(wù)，要求被選作系統(tǒng)部件的各種設(shè)備能做到標(biāo)準(zhǔn)化和規(guī)格化。智能測(cè)試系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)化反映在兩個(gè)方面:其一是系統(tǒng)內(nèi)傳遞的消息類型及表達(dá)方式應(yīng)該規(guī)范化;其二是系統(tǒng)部件的接口部件必須標(biāo)準(zhǔn)化。這些標(biāo)準(zhǔn)都要已正式文本的形式加以確認(rèn)，使之成為國(guó)際化的專業(yè)標(biāo)注。電子測(cè)試系統(tǒng)加工