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大連發(fā)光材料和器件專譜光電廠商

來源: 發(fā)布時間:2025-07-26

ProSp-Micro 顯微光譜測量系統(tǒng)在科研領(lǐng)域的具體應(yīng)用激光材料領(lǐng)域應(yīng)用:研究材料的熒光信號和拉曼信號,從而評價材料的性能和參數(shù)指標(biāo)。優(yōu)勢:能夠提供材料在微觀區(qū)域的光譜信息,幫助研究人員優(yōu)化材料的性能。4. 光子晶體領(lǐng)域應(yīng)用:如測量利用光子晶體原理制造的紡織品,測量某微小區(qū)域的顏色值,某個較大區(qū)域的顏色分布情況。優(yōu)勢:通過顯微光譜測量,可以精確分析光子晶體的光學(xué)特性,為新型光子材料的研發(fā)提供支持。5. 珠寶和古籍檢測領(lǐng)域應(yīng)用:通過測量樣品的反射、熒光或拉曼光譜,進(jìn)行種類識別和真假鑒定。優(yōu)勢:提供高分辨率的光譜數(shù)據(jù),幫助鑒定珠寶的成分和古籍的保存狀況。專譜(ProSp)顯微系統(tǒng)是一種高性能的顯微光譜測量設(shè)備,由杭州譜鐳光電技術(shù)有限公司開發(fā)。大連發(fā)光材料和器件專譜光電廠商

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專譜量子效率測試系統(tǒng)是一種用于測量光電器件和材料量子效率的高性能設(shè)備。它廣泛應(yīng)用于太陽能電池、光電探測器、LED、光電器件的研發(fā)和質(zhì)量控制。以下是其主要特點和功能:測量方法:外量子效率(EQE):衡量光電器件從外部光源接收光子并轉(zhuǎn)換為電子的效率,包括光吸收、電子遷移、表面反射等多個因素。內(nèi)量子效率(IQE):*考慮光電器件內(nèi)部的光電轉(zhuǎn)換效率,排除了因光的反射或透射而造成的損失。光譜范圍:250-2500 nm。高靈敏度探測器:采用高靈敏度的光電二極管或光電倍增管。自動化控制:集成自動化控制功能,能夠進(jìn)行大規(guī)模、高通量的測試。多種測量功能:支持量子效率、光譜響應(yīng)、IV特性等多種測量。甘肅發(fā)光材料和器件專譜光電測量系統(tǒng)共聚焦激光掃描顯微系統(tǒng):如 ProSp-Con50i,用于高分辨率成像。

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激光器與光通信:性能評估:評估激光發(fā)射器件的效率和穩(wěn)定性,尤其是在高功率和高頻率的條件下。信號傳輸:提高光源的性能,確保數(shù)據(jù)的高速、穩(wěn)定傳輸。環(huán)境監(jiān)測與食品安全:光降解效率:測量水體中污染物的光降解效率。光穩(wěn)定性:檢測食品中添加劑的光穩(wěn)定性。3. 系統(tǒng)組成專譜量子效率測試系統(tǒng)通常由以下部分組成:光源:可調(diào)波長的激光或光譜光源,用于照射測試樣品。樣品臺:用于放置和固定測試樣品。探測器:高靈敏度的光電二極管或光電倍增管,用于捕捉樣品反應(yīng)后的信號。數(shù)據(jù)分析系統(tǒng):用于處理和分析測量數(shù)據(jù),計算量子效率等參數(shù)。4. 產(chǎn)品優(yōu)勢體積小巧:便于靈活使用及運輸。原位測量:可放置在手套箱內(nèi),實現(xiàn)原位測量。操作簡單:設(shè)備無需頻繁校準(zhǔn)。結(jié)果準(zhǔn)確:使用NIST溯源的輻射校準(zhǔn)。測試高效:自動測量和遠(yuǎn)程控制,一次多樣品測試。結(jié)果清晰:**軟件內(nèi)嵌計算算法,直接得到測試結(jié)果。測試范圍廣:兼容較寬亮度范圍器件,從0.01 nit到2×10?nit。

參數(shù)指標(biāo)表格復(fù)制參數(shù)/型號ProSp-RTM-UVProSp-RTM-VIS光譜范圍250-2500 nm250-2500 nm光源選配,SMA905 光纖接口內(nèi)置鎢燈光源(360-2500 nm),可外接其他光源光斑大小可調(diào),**小 1.5 mm可調(diào),**小 1.5 mm入射光發(fā)散角<1.5°<1.5°入射角范圍0-270°0-350°接收角范圍0-360°0-360°角度分辨率0.1°0.1°樣品臺三維調(diào)節(jié)三維調(diào)節(jié)濾波片架包含 2 個濾波片架,可放置直徑 12.7 mm 的濾波片、波片和偏振片包含 2 個濾波片架,可放置直徑 12.7 mm 的濾波片、波片和偏振片旋轉(zhuǎn)偏振片架選配選配ProSp 角分辨測試系統(tǒng)憑借其高角度分辨率、全光譜測量能力和多種測量模式,成為材料科學(xué)和光學(xué)研究中的理想選擇。其在微納光學(xué)、材料學(xué)和生物技術(shù)等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,展示了其強大的性能和靈活性。膜厚光譜測量系統(tǒng):用于測量薄膜的厚度和折射率。

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ProSp 標(biāo)壓系統(tǒng):功能與應(yīng)用ProSp 標(biāo)壓系統(tǒng)(如 SPL-Micro2000)是一種高性能的顯微光譜測量系統(tǒng),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)和環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域。以下是其主要功能和應(yīng)用:1. 系統(tǒng)特點多功能集成:ProSp 標(biāo)壓系統(tǒng)集成了熒光、拉曼和反射光譜測量功能,能夠?qū)崿F(xiàn)多種光譜測量。模塊化設(shè)計:系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計,用戶可以根據(jù)需要選擇不同的光譜儀、激光器和顯微鏡。立式結(jié)構(gòu):利用成熟的商業(yè)顯微鏡,增加光譜測量模塊,可以通過撥桿切換實現(xiàn)熒光標(biāo)壓和拉曼標(biāo)壓。操作便捷:系統(tǒng)操作簡單,用戶可以通過軟件控制光譜數(shù)據(jù)采集和 CCD 數(shù)據(jù)采集。顯微鏡:用于觀察樣品并提供顯微成像。 二維掃描臺:用于實現(xiàn)Mapping光譜測量功能。四川濾光片專譜光電設(shè)備

專譜(ProSp)激光器是一系列高性能激光器產(chǎn)品,廣泛應(yīng)用于光譜分析、生物檢測、拉曼光譜測量等領(lǐng)域。大連發(fā)光材料和器件專譜光電廠商

ProSp 角分辨測試系統(tǒng)自動測量參數(shù)ProSp 角分辨測試系統(tǒng)(ProSp-RTM-UV/VIS)能夠自動測量多種參數(shù),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、微納光學(xué)、生物技術(shù)和礦物分析等領(lǐng)域。以下是其自動測量的參數(shù)和功能:自動測量參數(shù)反射光譜:上反射:測量從樣品表面反射的光譜。下反射:測量從樣品背面反射的光譜。透射光譜:測量光通過樣品后的透射光譜。輻射光譜:測量樣品發(fā)出的輻射光譜。散射光譜:測量樣品散射的光譜。熒光光譜:測量樣品在激發(fā)光作用下發(fā)出的熒光光譜。角度依賴性參數(shù):入射角:系統(tǒng)可以自動調(diào)整入射光的角度,范圍為 0-270°。接收角:系統(tǒng)可以自動調(diào)整接收光的角度,范圍為 0-360°。大連發(fā)光材料和器件專譜光電廠商