國際標(biāo)準(zhǔn)ISO 10012:2003規(guī)范了檢測設(shè)備的校準(zhǔn)周期與環(huán)境控制要求,確保測量結(jié)果的溯源性。檢測流程標(biāo)準(zhǔn)化包含四個環(huán)節(jié):采樣:依據(jù)ASTM標(biāo)準(zhǔn)確定抽樣比例成像:按材質(zhì)特性配置光源參數(shù)分析:設(shè)置分級判定閾值判定:生成數(shù)字化檢測報告企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)通過積累歷史缺陷數(shù)據(jù)持續(xù)優(yōu)化算法參數(shù),例如將劃痕識別靈敏度提升至微米級。電子元件檢測中,系統(tǒng)可識別0.1mm2的焊錫殘留與引腳氧化缺陷,采用OpenCV庫實現(xiàn)實時圖像處理。在激光打印機碳粉盒部件檢測中,系統(tǒng)通過位置探測器自動校準(zhǔn)檢測區(qū)域,廢粉刮片表面平滑度檢測精度達(dá)到±2μm [2]。2024年發(fā)明專利顯示,多工位檢測設(shè)備可同步完成托盤正反兩面12項缺陷檢...
布局建議針對AOI檢查的PCB整體布局器件到PCB的邊緣應(yīng)該至少留有3mm(0.12”)的工 藝邊。片式器件必須優(yōu)先于圓柱形器件。布局上建議考慮 傳感器技術(shù),因為有時檢查只能通過垂直(正交)角度,而其他時候又需要一個輔助的角度來進行。元器件圖2對一個穩(wěn)定的工藝過程來說,一個重要的因素是元器 件,這不僅與PCB上直接的器件布局有關(guān),而且或多或少 也與“工藝流程設(shè)計”有關(guān)。元器件的采購趨勢是盡 可能地便宜,而不管它在顏色、尺寸等參數(shù)上的不同。不 幸的是,這些選擇在日后對AOI或AXI檢查過程中造成的影 響往往被忽略了。始終采用同樣的材料和產(chǎn)品能夠***地 減少檢查時間和誤報,而這些問題主要是通過元...
刷錫后貼片前:橋接-移位-無錫-錫不足貼片后回流焊前:移位,漏料、極性、歪斜、腳彎、錯件回流焊或波峰焊后:少錫/多錫、無錫短接 錫球 漏料-極性-移位腳彎錯件PCB行業(yè)裸板檢測(1)高速檢測系統(tǒng)與PCB板貼裝密度無關(guān)(2)快速便捷的編程系統(tǒng)圖形界面下進行運用帖裝數(shù)據(jù)自動進行數(shù)據(jù)檢測運用元件數(shù)據(jù)庫進行檢測數(shù)據(jù)的快速編輯(3)運用豐富的**多功能檢測算法和二元或灰度水平光學(xué)成像處理技術(shù)進行檢測(4)根據(jù)被檢測元件位置的瞬間變化進行檢測窗口的自動化校正,達(dá)到高精度檢測(5)通過用墨水直接標(biāo)記于PCB板上或在操作顯示器上用圖形錯誤表示來進行檢測電的核對根據(jù)被檢測元件位置的瞬間變化進行檢測窗口的自動化校...
人工檢查 AOI檢查pcb<18*20 幾千個pad以下人 重要 輔助檢查時間 正常 正常持續(xù)性 因人而異 (差) 好可靠性 因人而異 (差) 較好準(zhǔn)確性 因人而異 誤點率高時間 長 短與或非(AND OR INVERT)一種常用邏輯運算實施AOI有以下兩類主要的目標(biāo):**終品質(zhì)對產(chǎn)品走下生產(chǎn)線時的**終狀態(tài)進行監(jiān)控。當(dāng)生產(chǎn)問題非常清楚、產(chǎn)品混合度高、數(shù)量和速度為關(guān)鍵因素的時候,優(yōu)先采用這個目標(biāo)。AOI通常放置在生產(chǎn)線**末端。在這個位置,設(shè)備可以產(chǎn)生范圍***的過程控制信息。這個階段的定量過程控制數(shù)據(jù)包括,印刷偏移和焊錫量信息,而有關(guān)印刷焊錫的定性信息也會產(chǎn)生?;⑶饏^(qū)國內(nèi)自動化缺陷檢測設(shè)備批...
元器件尺寸IPC-7350標(biāo)準(zhǔn)描述了器件的尺寸,并對某些焊盤的尺 寸提出了建議。根據(jù)IPC標(biāo)準(zhǔn),器件的長度和引腳的寬度可 以有一個較大變化范圍,相反,焊盤的尺寸卻是相對固定 的。此外,PCB制造公差的影響相對于這些器件的變化來說 也是是很小的。PCB的顏色和阻焊通常,設(shè)備能夠檢查 出所有不同單板的顏色, 盡管檢查中的某些細(xì)節(jié)處 理是不倚賴于顏色的。例 如, 一塊白色和一塊綠 色的PCB有著不同的對比 度,因此設(shè)備需要一些特 定的補償。在一種極端情 況下,橋接在亮背景下呈 現(xiàn)黑色,而在另一種極端情況下,橋接在黑背景下卻是呈現(xiàn)出亮色。這里我們建議 使用無光澤的阻焊層。在我們的實踐中,焊盤間(甚至是...
LS(Lead Scan的縮寫)是半導(dǎo)體封裝后段制程中用于集成電路(IC)外觀缺陷自動化檢測的關(guān)鍵設(shè)備,涵蓋晶圓切割、焊線鍵合、芯片封裝等多環(huán)節(jié)的質(zhì)量控制。該設(shè)備采用激光散射與暗場成像技術(shù),可識別23nm級顆粒污染、劃痕及鍵合參數(shù)異常,檢測貫穿硅片認(rèn)證、生產(chǎn)過程控片檢測等全流程。主流設(shè)備型號包括ICOS品牌的LS-7700和Hitachi High-Tech的LS系列,其技術(shù)指標(biāo)與切割砂輪規(guī)格、封裝檢驗標(biāo)準(zhǔn)深度關(guān)聯(lián)。隨著7nm以下先進制程占比提升,LS類設(shè)備的資本開支占比已超過20%,成為保障車規(guī)級芯片可靠性的**環(huán)節(jié) [1]。采樣:依據(jù)ASTM標(biāo)準(zhǔn)確定抽樣比例.常熟本地自動化缺陷檢測設(shè)備銷售...
在DSP上運行嵌入式實時操作系統(tǒng)DSP /BIOSⅡ 來解決自動化探傷中的高速中斷響應(yīng)、多任務(wù)調(diào)度、外設(shè)控制、門限報警等問題; 在主機上采用WIN2000操作系統(tǒng)和基于V C+ + 應(yīng)用程序,完成4通道波形實時顯示, 16通道波形任意切換、用戶指令操作等任務(wù)。DSP嵌入式實時操作系統(tǒng)作為一個可配置的操作系統(tǒng)內(nèi)核服務(wù)例程的**, DSP /BIOSⅡ 提供了基于搶占式優(yōu)先級的多線程任務(wù)管理,跨平臺的實時內(nèi)核分析和硬件資源的靜態(tài)配置。嵌入式DSP子系統(tǒng)軟件包括兩個模塊: 應(yīng)用程序和系統(tǒng)程序。系統(tǒng)程序執(zhí)行對基本硬件初始化、系統(tǒng)資源的配置、外設(shè)訪問控制、硬件中斷服務(wù)例程、進程間的實時調(diào)度; 應(yīng)用軟件實...
圖像分析模塊:運行閾值分割、形態(tài)學(xué)處理算法 [2-3]2024年實用新型專利顯示,先進系統(tǒng)可集成分揀模塊實現(xiàn)自動化品質(zhì)分級,檢測流程耗時較人工檢測縮短90% [2]。檢測算法分為三類技術(shù)路線:傳統(tǒng)圖像處理:采用全局/局部閾值分割進行像素分類,配合邊緣檢測算法提取缺陷輪廓深度學(xué)習(xí)模型:基于卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的特征提取技術(shù),適用于復(fù)雜背景缺陷檢測混合模型:結(jié)合傳統(tǒng)算法預(yù)處理與深度學(xué)習(xí)分類,提升微小缺陷識別率2025年顯示屏缺陷檢測**顯示,blob分析與幾何位置匹配算法可將重復(fù)缺陷檢出率提升至99.7%。每塊PCB可以采用光學(xué)或者X-ray技術(shù)并運用適當(dāng) 的運算法則來進行檢查。工業(yè)園區(qū)銷售自動化缺陷檢測...
在DSP上運行嵌入式實時操作系統(tǒng)DSP /BIOSⅡ 來解決自動化探傷中的高速中斷響應(yīng)、多任務(wù)調(diào)度、外設(shè)控制、門限報警等問題; 在主機上采用WIN2000操作系統(tǒng)和基于V C+ + 應(yīng)用程序,完成4通道波形實時顯示, 16通道波形任意切換、用戶指令操作等任務(wù)。DSP嵌入式實時操作系統(tǒng)作為一個可配置的操作系統(tǒng)內(nèi)核服務(wù)例程的**, DSP /BIOSⅡ 提供了基于搶占式優(yōu)先級的多線程任務(wù)管理,跨平臺的實時內(nèi)核分析和硬件資源的靜態(tài)配置。嵌入式DSP子系統(tǒng)軟件包括兩個模塊: 應(yīng)用程序和系統(tǒng)程序。系統(tǒng)程序執(zhí)行對基本硬件初始化、系統(tǒng)資源的配置、外設(shè)訪問控制、硬件中斷服務(wù)例程、進程間的實時調(diào)度; 應(yīng)用軟件實...
作為慣例,在生產(chǎn)中,測試系統(tǒng)應(yīng)當(dāng)根據(jù)生產(chǎn)批量的要 求建立并優(yōu)化。實際運作中無數(shù)次地證明,*這樣做是遠(yuǎn) 遠(yuǎn)不夠的。如果在兩周的生產(chǎn)時間內(nèi)要測試一個新批次的 PCB,有可能會發(fā)生這樣的情況:ELKO的顏色突然由黑色 變?yōu)榱它S色,或者晶體管的引腳變短了、是彎的;或是電阻的顏色由黃色變成了藍(lán)色的,等等。AOI檢查程序必須而且能夠處理這些不同的變化所帶來 的問題。但是,其中的一些變化需要花費時間進行處理, 因為我們不能預(yù)先知道是否有一種新的元器件被使用,或 是存在一個錯誤的元器件布局。同時,面對質(zhì)量方面的困 難,大量允許的可能出現(xiàn)的情況也需要一個一致的,確實 可行的說明。這個信息可用來修改元件貼放或表明...
2D x-ray圖8當(dāng)應(yīng)用2D x-ray技術(shù)時,所有的器件都需要被布置在 PCB的正面。而用2Dx-ray去檢測這些器件時,還必須再定 義出一塊沒有器件的地方為“禁區(qū)”。對于有些BGAs,會 推薦使用一種淚滴型的不對稱焊盤設(shè)計,這使得焊錫的成 型性質(zhì)被系統(tǒng)錯誤的判斷為一種幾何的連接形態(tài);此外, 一些特殊的QFN向內(nèi)或向外的彎月型焊盤設(shè)計也同樣有這種情況。QFN 焊盤設(shè)計QFN器件的焊盤尺寸、焊膏印 刷面積與它的引腳尺寸是同樣大小 的,而且器件的引腳是交錯排列在 封裝體底部的(圖8)。運用高速高精度視覺處理技術(shù)自動檢測PCB板上各種不同貼裝錯誤及焊接缺陷.常熟本地自動化缺陷檢測設(shè)備維修電話基本...
基本優(yōu)化每塊PCB可以采用光學(xué)或者X-ray技術(shù)并運用適當(dāng) 的運算法則來進行檢查。基于圖像檢查的基本 原理是:每個具有明顯對比度的圖像都是可以 被檢查的。在AOI中存在的主要問題是,當(dāng)一些檢查對象是 不可見的,或是在PCB上存在一些干擾使得圖像變得模糊 或隱藏起來了。然而,實際經(jīng)驗和系統(tǒng)化測試都表明,這 些影響是可以通過PCB的設(shè)計來預(yù)防甚至減少的。為了推 動這種優(yōu)化設(shè)計,可以運用一些看上去很古老的附加手段(這些方法仍在很多領(lǐng)域被推崇),它的優(yōu)點包括:如果錫膏印刷過程滿足要求,那么ICT發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量可大幅度的減少。昆山銷售自動化缺陷檢測設(shè)備銷售電話HC-U83自動測樁系統(tǒng)使用雙通道信號快速采...
在DSP上運行嵌入式實時操作系統(tǒng)DSP /BIOSⅡ 來解決自動化探傷中的高速中斷響應(yīng)、多任務(wù)調(diào)度、外設(shè)控制、門限報警等問題; 在主機上采用WIN2000操作系統(tǒng)和基于V C+ + 應(yīng)用程序,完成4通道波形實時顯示, 16通道波形任意切換、用戶指令操作等任務(wù)。DSP嵌入式實時操作系統(tǒng)作為一個可配置的操作系統(tǒng)內(nèi)核服務(wù)例程的**, DSP /BIOSⅡ 提供了基于搶占式優(yōu)先級的多線程任務(wù)管理,跨平臺的實時內(nèi)核分析和硬件資源的靜態(tài)配置。嵌入式DSP子系統(tǒng)軟件包括兩個模塊: 應(yīng)用程序和系統(tǒng)程序。系統(tǒng)程序執(zhí)行對基本硬件初始化、系統(tǒng)資源的配置、外設(shè)訪問控制、硬件中斷服務(wù)例程、進程間的實時調(diào)度; 應(yīng)用軟件實...
作為慣例,在生產(chǎn)中,測試系統(tǒng)應(yīng)當(dāng)根據(jù)生產(chǎn)批量的要 求建立并優(yōu)化。實際運作中無數(shù)次地證明,*這樣做是遠(yuǎn) 遠(yuǎn)不夠的。如果在兩周的生產(chǎn)時間內(nèi)要測試一個新批次的 PCB,有可能會發(fā)生這樣的情況:ELKO的顏色突然由黑色 變?yōu)榱它S色,或者晶體管的引腳變短了、是彎的;或是電阻的顏色由黃色變成了藍(lán)色的,等等。AOI檢查程序必須而且能夠處理這些不同的變化所帶來 的問題。但是,其中的一些變化需要花費時間進行處理, 因為我們不能預(yù)先知道是否有一種新的元器件被使用,或 是存在一個錯誤的元器件布局。同時,面對質(zhì)量方面的困 難,大量允許的可能出現(xiàn)的情況也需要一個一致的,確實 可行的說明。貼片后回流焊前:移位,漏料、極性...
自動探傷系統(tǒng)是利用超聲波探傷技術(shù),滿足用戶對探傷的實時性要求,并實現(xiàn)實時報警、 缺陷定位和當(dāng)量計算的探測系統(tǒng)。超聲波探傷技術(shù)在無損檢測領(lǐng)域中占有極其重要的地位。 近年來, 計算機軟硬件技術(shù)、 高速數(shù)字信號處理技術(shù)、 虛擬儀器技術(shù)的發(fā)展, 使無損檢測技術(shù)在數(shù)據(jù)處理手段、 儀器檢測性能、 設(shè)備系統(tǒng)化和智能化程度方面取得了巨大進步。 [1] 目前已經(jīng)誕生了多種數(shù)字化便攜式探傷儀 , 然而自動化超聲波探傷系統(tǒng)仍以多通道模擬方式為主自動探傷系統(tǒng)中,基于嵌入式DSP 子系統(tǒng)可以滿足用戶對探傷的實時性要求, 實現(xiàn)實時報警、 缺陷定位和當(dāng)量計算; 另一方面, 利用PC 機強大的處理能力和豐富的資源, 完成對缺...
錫膏印刷之后如果錫膏印刷過程滿足要求,那么ICT發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量可大幅度的減少。典型的印刷缺陷包括以下幾點:A.焊盤上焊錫不足。B.焊盤上焊錫過多。C.焊錫對焊盤的重合不良。D.焊盤之間的焊錫橋。在ICT上,相對這些情況的缺陷概率直接與情況的嚴(yán)重性成比例。輕微的少錫很少導(dǎo)致缺陷,而嚴(yán)重的情況,如根本無錫,幾乎總是在ICT造成缺陷。焊錫不足可能是元件丟失或焊點開路的一個原因。盡管如此,決定哪里放置AOI需要認(rèn)識到元件丟失可能是其它原因下發(fā)生的,這些原因必須放在檢查計劃內(nèi)。這個位置的檢查**直接地支持過程跟蹤和特征化。這個階段的定量過程控制數(shù)據(jù)包括,印刷偏移和焊錫量信息,而有關(guān)印刷焊錫的定性信息也會...
布局建議針對AOI檢查的PCB整體布局器件到PCB的邊緣應(yīng)該至少留有3mm(0.12”)的工 藝邊。片式器件必須優(yōu)先于圓柱形器件。布局上建議考慮 傳感器技術(shù),因為有時檢查只能通過垂直(正交)角度,而其他時候又需要一個輔助的角度來進行。元器件圖2對一個穩(wěn)定的工藝過程來說,一個重要的因素是元器 件,這不僅與PCB上直接的器件布局有關(guān),而且或多或少 也與“工藝流程設(shè)計”有關(guān)。元器件的采購趨勢是盡 可能地便宜,而不管它在顏色、尺寸等參數(shù)上的不同。不 幸的是,這些選擇在日后對AOI或AXI檢查過程中造成的影 響往往被忽略了。始終采用同樣的材料和產(chǎn)品能夠***地 減少檢查時間和誤報,而這些問題主要是通過元...
由于工藝波動和器件邊緣的阻擋作 用,導(dǎo)致不能完全形成一個完整的上半月型焊點。盡管沒有 形成一個上半月型的焊點,但也可以被認(rèn)為焊接得很好。 “鷗翼”型引腳焊錫的側(cè)面爬升情況由于器件變化或 焊盤設(shè)計的原因,并不是經(jīng)常能夠被檢查出來,這是由于 焊錫的爬升方向必須用同引腳方向垂直的角度去檢查。假 如爬升很小,必須從其他角度來檢查,而只有通過這樣的輔助檢查,才能提供豐富的圖像信息去評估焊點的好壞。? 斜角檢測:PLCCs型器件PCB板的范圍可從細(xì)間距高密度板到低密度大尺寸板,并可提供在線檢測方案,以提高生產(chǎn)效率,及焊接質(zhì)量。相城區(qū)本地自動化缺陷檢測設(shè)備銷售電話避免焊點反射焊點的形狀和接觸角是焊點反射的根...
適應(yīng)性程序沒有發(fā)現(xiàn)轉(zhuǎn)到無鉛會對焊點質(zhì)量的檢查帶來什么影響。缺陷看上去還是一樣的。毫無疑問,只需要稍微修改一下數(shù)據(jù)庫,就足以排除其他誤報可能會帶來的影響。在元件頂上的內(nèi)容改變時,就需要大量的工作,確定門限值。這些可以納入到標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫中。在元件的一端立起來時,***其他環(huán)節(jié)的檢測,便可以進行可靠的分析。對于橋接的形成或者元件一端立起來的普遍看法,證明常常不是那樣。經(jīng)驗表明,橋接的形成沒有改變,元件一端立起來的現(xiàn)像就會有所減少。焊錫不足可能是元件丟失或焊點開路的一個原因。張家港重型自動化缺陷檢測設(shè)備按需定制人工檢查 AOI檢查pcb<18*20 幾千個pad以下人 重要 輔助檢查時間 正常 正常持續(xù)...
2D x-ray圖8當(dāng)應(yīng)用2D x-ray技術(shù)時,所有的器件都需要被布置在 PCB的正面。而用2Dx-ray去檢測這些器件時,還必須再定 義出一塊沒有器件的地方為“禁區(qū)”。對于有些BGAs,會 推薦使用一種淚滴型的不對稱焊盤設(shè)計,這使得焊錫的成 型性質(zhì)被系統(tǒng)錯誤的判斷為一種幾何的連接形態(tài);此外, 一些特殊的QFN向內(nèi)或向外的彎月型焊盤設(shè)計也同樣有這種情況。QFN 焊盤設(shè)計QFN器件的焊盤尺寸、焊膏印 刷面積與它的引腳尺寸是同樣大小 的,而且器件的引腳是交錯排列在 封裝體底部的(圖8)?;亓骱富虿ǚ搴负螅荷馘a/多錫、無錫短接 錫球 漏料-極性-移位腳彎錯件.張家港整套自動化缺陷檢測設(shè)備銷售電話配...
由于缺乏無鉛元件,轉(zhuǎn)到使用無鉛元件是分階段進行的。在2004年,由于要求電子產(chǎn)品的體積越來越小,迫使制造商***地用0402元件來取代0603元件和0805元件。工藝條件除了普遍使用的0402元件,印刷電路板的***次合格率(FPY)必須達(dá)到95%,而且必須根據(jù)印刷電路協(xié)會(IPC)的2級標(biāo)準(zhǔn)來檢測缺陷。例如,在有608個焊點的168元件的情況下,相當(dāng)于要求誤報率是百萬分之65。為了達(dá)到FPY的要求,在檢測缺陷時必須考慮以下條件:元件長度的公差、元件供應(yīng)商、貼片公差、在25 個AOI系統(tǒng)上的全球檢測數(shù)據(jù)庫、有80個獨特產(chǎn)品的全球檢測數(shù)據(jù)庫、無鉛焊料、不同的電路板供應(yīng)商以及檢測質(zhì)量要達(dá)到IPC的...
更加可行的方法是,取出確定每道工藝和元件變化的特性。這些變化可以分成不同的等級。如果在使用的工藝中,出現(xiàn)了一個新的變化,就要增加一個級別,來保證檢查的精確性。所有認(rèn)識到的和已知的缺陷都儲存起來,他們的類型和圖片可以用于AOI系統(tǒng)和全球數(shù)據(jù)庫里的檢查程序。我們沒有必要把一塊不同缺陷的電路板保存起來用于詳細(xì)的檢查。用AOI軟件核實真正的缺陷AOI軟件中有一個綜合性的驗證功能,它能減少檢查的誤報,保證檢測程序無缺陷。它可以檢查儲存起來的有缺陷的樣品,例如,修理站存放的樣品,以及印刷了焊膏的空白印刷電路板。決定哪里放置AOI需要認(rèn)識到元件丟失可能是其它原因下發(fā)生的,這些原因必須放在檢查計劃內(nèi)。姑蘇區(qū)直...
配置ULPA過濾器,有效控制檢測環(huán)境中的微粒干擾;3.提供2英寸、3英寸、4英寸及6英寸的夾具適配方案,支持多規(guī)格晶片檢測需求。通過四頻道探測器實現(xiàn)多維數(shù)據(jù)分析:散射光頻道:捕捉表面散射信號以識別顆粒和微觀形變;反射光頻道:分析晶片反射特性,判斷劃痕和凹坑;項移頻道:檢測晶格結(jié)構(gòu)位移異常;Z頻道:測量縱向維度缺陷參數(shù)。設(shè)備集成以下自動化模塊 [1]:1.自動對焦系統(tǒng):動態(tài)調(diào)整焦距確保檢測精度;2.機械手臂傳輸:實現(xiàn)晶片的精細(xì)定位與快速轉(zhuǎn)移,降低人工干預(yù)風(fēng)險;3.**環(huán)及片盒定位器:保障晶片在檢測過程中的穩(wěn)定姿態(tài)。采樣:依據(jù)ASTM標(biāo)準(zhǔn)確定抽樣比例.昆山國內(nèi)自動化缺陷檢測設(shè)備批量定制在DSP上運...
AOI軟件中有一個綜合性的驗證功能,它能減少檢查的誤報,保證檢測程序無缺陷。它可以檢查儲存起來的有缺陷的樣品,例如,修理站存放的樣品,以及印刷了焊膏的空白印刷電路板。在優(yōu)化階段,在這方面花時間的原因是為了不讓任何缺陷溜過去。所有已知的缺陷都必須檢查,同時要把允許出現(xiàn)的誤報數(shù)量做到**小。在針對減少誤報而對任何程序進行調(diào)整時,要檢查一下,看看以前檢查出來的直正缺陷,是否得到維修站的證實。通過綜合的核實,保證檢查程序的質(zhì)量,用于專門的制造和核查,同時對誤報進行追蹤。器件到PCB的邊緣應(yīng)該至少留有3mm(0.12”)的工 藝邊。太倉購買自動化缺陷檢測設(shè)備銷售價格在元件頂上的內(nèi)容改變時,就需要大量的工...
在元件頂上的內(nèi)容改變時,就需要大量的工作,確定門限值。這些可以納入到標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫中。在元件的一端立起來時,***其他環(huán)節(jié)的檢測,便可以進行可靠的分析。對于橋接的形成或者元件一端立起來的普遍看法,證明常常不是那樣。經(jīng)驗表明,橋接的形成沒有改變,元件一端立起來的現(xiàn)像就會有所減少。轉(zhuǎn)到使用無鉛焊膏并不需要投資新的系統(tǒng)或者設(shè)備,只要使用的AOI系統(tǒng)配備了靈活的傳感器模塊、照明和軟件,就足以適應(yīng)這些變化了。國內(nèi)明銳理想 Magic Ray鐳晨 Maker-ray振華興VCTA視界焦點VIFO勁拓 JT矩子智能 JUTZE神州視覺ALEDER北京星河康帝思 SRC吉洋GEEYOO同向精密焊錫不足可能是元件丟...
光學(xué)檢測儀(Automatic Optic Inspection,簡稱AOI)是一種基于光學(xué)原理檢測焊接生產(chǎn)缺陷的自動化設(shè)備,主要應(yīng)用于電子制造領(lǐng)域。該設(shè)備通過攝像頭自動掃描印刷電路板(PCB),采集圖像并與預(yù)設(shè)合格參數(shù)進行對比,識別焊接缺陷如橋接、元件移位等。其軟件具備綜合驗證功能,可優(yōu)化檢測程序以減少誤報,并支持無鉛焊膏工藝的適應(yīng)性調(diào)整。系統(tǒng)通過靈活的傳感器模塊、照明及算法分析,能夠適應(yīng)元件形態(tài)變化,兼容現(xiàn)有生產(chǎn)線設(shè)備。AOI技術(shù)近年快速發(fā)展,已成為電子制造中提升檢測效率的關(guān)鍵工具之一。驅(qū)動機構(gòu):控制檢測區(qū)域移動與翻轉(zhuǎn).高新區(qū)購買自動化缺陷檢測設(shè)備哪里買缺陷檢測是通過機器視覺技術(shù)對物品表面...
避免焊點反射焊點的形狀和接觸角是焊點反射的根源。焊點的形成 依賴于焊盤的尺寸、器件的高度、焊錫的數(shù)量和回流工藝 參數(shù)。為了防止焊接反射,應(yīng)當(dāng)避免器件對稱排列。波峰焊圖5經(jīng)過波峰焊后,焊點所有的參數(shù)會有很大的變化,這 主要是由于焊爐內(nèi)錫的老化導(dǎo)致焊盤反射特性從光亮到灰 暗,因此,在檢查時算法上必須要包含這些變化。在波峰焊 中,典型的缺陷是短路和焊珠。當(dāng)檢測到短路時,假如印刷 的圖案或者無反射印刷這兩種情況的減少以及應(yīng)用阻焊層, 就可以消除這些誤報。如果基準(zhǔn)點沒有被阻焊膜蓋住而過波 峰焊,可能會導(dǎo)致一個圓形基準(zhǔn)點上錫成了一個半球,其內(nèi) 在的反射特性將會發(fā)生改變;應(yīng)用十字型作為基準(zhǔn)點或者用 阻焊層覆...
在優(yōu)化階段,在這方面花時間的原因是為了不讓任何缺陷溜過去。所有已知的缺陷都必須檢查,同時要把允許出現(xiàn)的誤報數(shù)量做到**小。在針對減少誤報而對任何程序進行調(diào)整時,要檢查一下,看看以前檢查出來的真正缺陷,是否得到維修站的證實。通過綜合的核實,保證檢查程序的質(zhì)量,用于專門的制造和核查,同時對誤報進行追蹤。無鉛和檢測工藝適應(yīng)性程序沒有發(fā)現(xiàn)轉(zhuǎn)到無鉛會對焊點質(zhì)量的檢查帶來什么影響。缺陷看上去還是一樣的。毫無疑問,只需要稍微修改一下數(shù)據(jù)庫,就足以排除其他誤報可能會帶來的影響。AOI通常放置在生產(chǎn)線末端。在這個位置,設(shè)備可以產(chǎn)生范圍過程控制信息。工業(yè)園區(qū)安裝自動化缺陷檢測設(shè)備按需定制圖像分析模塊:運行閾值分割...
元器件尺寸IPC-7350標(biāo)準(zhǔn)描述了器件的尺寸,并對某些焊盤的尺 寸提出了建議。根據(jù)IPC標(biāo)準(zhǔn),器件的長度和引腳的寬度可 以有一個較大變化范圍,相反,焊盤的尺寸卻是相對固定 的。此外,PCB制造公差的影響相對于這些器件的變化來說 也是是很小的。PCB的顏色和阻焊通常,設(shè)備能夠檢查 出所有不同單板的顏色, 盡管檢查中的某些細(xì)節(jié)處 理是不倚賴于顏色的。例 如, 一塊白色和一塊綠 色的PCB有著不同的對比 度,因此設(shè)備需要一些特 定的補償。在一種極端情 況下,橋接在亮背景下呈 現(xiàn)黑色,而在另一種極端情況下,橋接在黑背景下卻是呈現(xiàn)出亮色。這里我們建議 使用無光澤的阻焊層。在我們的實踐中,焊盤間(甚至是...
而采用高速A /D 芯片, 采樣速率60M Hz, 分辨率10 位。 這就可以采用數(shù)字檢波技術(shù)取代模擬包絡(luò)檢波電路, 從而解決了上述問題并簡化了模擬部分的電路。 通過對采樣的數(shù)據(jù)進行簡單的邏輯運算, 就可使系統(tǒng)靈活配置全波、+ /- 半波、 射頻4 種檢波方式。 [2]軟閘門實時報警技術(shù)自動探傷設(shè)備對報警的實時性要求很高。傳統(tǒng)的探傷設(shè)備的閘門報警是由模擬電路實現(xiàn)的,需要閘門的動態(tài)補償。這部分電路雖能滿足報警實時性,但結(jié)構(gòu)復(fù)雜,易受干擾。探傷設(shè)備全數(shù)字化后,出現(xiàn)了軟閘門報警技術(shù),即采用軟件的方法進行波形閘門比較。其優(yōu)點在于閘門的設(shè)定非常靈活,控制簡單,操作可靠,結(jié)合各種抗干擾數(shù)字濾波技術(shù),可以極...