外形及封裝不同芯片是一種把電路（主要包括半導體設備，也包括被動組件等）小型化的方式，并時常制造在半導體晶圓表面上。幾乎所有芯片制造商采用的**常見標準是DIP，即雙列直插式封裝。這定義了一個矩形封裝，相鄰引腳之間的間距為2.54毫米（0.1英寸），引腳排之間的間距為0.1英寸的倍數(shù)。因此，0.1"x0.1"間距的標準“網(wǎng)格”可用于在電路板上組裝多個芯片并使它們保持整齊排列。隨著MSI和LSI芯片的出現(xiàn)，包括許多早期的CPU，稍大的DIP封裝能夠處理多達40個引腳的更多數(shù)量，而DIP標準沒有真正改變。集成電路是一種微型電子器件或部件。集成電路被放入保護性封裝中，以便于處理和組裝到印刷電路板上，并保護設備免受損壞。存在大量不同類型的包。某些封裝類型具有標準化的尺寸和公差，并已在JEDEC和ProElectron等行業(yè)協(xié)會注冊。其他類型是可能*由一兩個制造商制造的專有名稱。集成電路封裝是測試和運送設備給客戶之前的***一個組裝過程。| 無錫微原電子科技，提供持久耐用的集成電路芯片。南京應用集成電路芯片

晶體管發(fā)明并大量生產(chǎn)之后，各式固態(tài)半導體組件如二極管、晶體管等大量使用，取代了真空管在電路中的功能與角色。到了20世紀中后期半導體制造技術進步，使得集成電路成為可能。相對于手工組裝電路使用個別的分立電子組件，集成電路可以把很大數(shù)量的微晶體管集成到一個小芯片，是一個巨大的進步。集成電路的規(guī)模生產(chǎn)能力，可靠性，電路設計的模塊化方法確保了快速采用標準化集成電路代替了設計使用離散晶體管。

集成電路對于離散晶體管有兩個主要優(yōu)勢：成本和性能。成本低是由于芯片把所有的組件通過照相平版技術，作為一個單位印刷，而不是在一個時間只制作一個晶體管。性能高是由于組件快速開關，消耗更低能量，因為組件很小且彼此靠近。2006年，芯片面積從幾平方毫米到350 mm2，每mm2可以達到一百萬個晶體管。 虹口區(qū)集成電路芯片設計| 無錫微原電子科技，提供定制化集成電路芯片方案。

作用不同芯片可以封裝更多的電路。這樣增加了每單位面積容量，可以降低成本和增加功能，見摩爾定律，集成電路中的晶體管數(shù)量，每1.5年增加一倍。集成電路所有元件在結構上已組成一個整體，使電子元件向著微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面邁進了一大步。IC可以在一塊豌豆大小的材料上包含數(shù)十萬個單獨的晶體管。使用那么多的真空管會不切實際地笨拙且昂貴。集成電路的發(fā)明使信息時代的技術變得可行。IC現(xiàn)在廣泛應用于各行各業(yè)，從汽車到烤面包機再到游樂園游樂設施。集成電路幾乎用于所有電子設備，并徹底改變了電子世界?，F(xiàn)代計算機處理器和微控制器等IC的小尺寸和低成本使計算機、移動電話和其他數(shù)字家用電器成為現(xiàn)代社會結構中不可分割的部分。

總之，隨著外形尺寸縮小，幾乎所有的指標改善了，單位成本和開關功率消耗下降，速度提高。但是，集成納米級別設備的IC也存在問題，主要是泄漏電流。因此，對于**終用戶的速度和功率消耗增加非常明顯，制造商面臨改進芯片結構的尖銳挑戰(zhàn)。這個過程和在未來幾年所期望的進步，在半導體國際技術路線圖中有很好的描述。**在其開發(fā)后半個世紀，集成電路變得無處不在，計算機、手機和其他數(shù)字電器成為社會結構不可缺少的一部分。這是因為，現(xiàn)代計算、交流、制造和交通系統(tǒng)，包括互聯(lián)網(wǎng)，全都依賴于集成電路的存在。甚至很多學者認為由集成電路帶來的數(shù)字**是人類歷史中**重要的事件。IC的成熟將會帶來科技的***，不止是在設計的技術上，還有半導體的工藝突破，兩者都是必須的一環(huán)。| 無錫微原電子科技，打造符合市場需求的集成電路芯片。

因為CMOS設備只引導電流在邏輯門之間轉換，CMOS設備比雙極型組件（如雙極性晶體管）消耗的電流少很多。透過電路的設計，將多顆的晶體管管畫在硅晶圓上，就可以畫出不同作用的集成電路。隨機存取存儲器是**常見類型的集成電路，所以密度比較高的設備是存儲器，但即使是微處理器上也有存儲器。盡管結構非常復雜－幾十年來芯片寬度一直減少－但集成電路的層依然比寬度薄很多。組件層的制作非常像照相過程。雖然可見光譜中的光波不能用來曝光組件層，因為他們太大了。高頻光子（通常是紫外線）被用來創(chuàng)造每層的圖案。因為每個特征都非常小，對于一個正在調(diào)試制造過程的過程工程師來說，電子顯微鏡是必要工具。| 無錫微原電子科技，致力于集成電路芯片的創(chuàng)新。虹口區(qū)集成電路芯片設計

產(chǎn)品基本都是自己研發(fā)的。南京應用集成電路芯片

在使用自動測試設備（ATE）包裝前，每個設備都要進行測試。測試過程稱為晶圓測試或晶圓探通。晶圓被切割成矩形塊，每個被稱為晶片（“die”）。每個好的die被焊在“pads”上的鋁線或金線，連接到封裝內(nèi)，pads通常在die的邊上。封裝之后，設備在晶圓探通中使用的相同或相似的ATE上進行終檢。測試成本可以達到低成本 產(chǎn)品的制造成本的25%，但是對于低產(chǎn)出，大型和/或高成本的設備，可以忽略不計。在2005年，一個制造廠（通常稱為半導體工廠，常簡稱fab，指fabrication facility）建設費用要超過10億美元，因為大部分操作是自動化的。南京應用集成電路芯片

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