外觀檢查規(guī)定

1.表盤上或外殼上至少應(yīng)有下述標(biāo)志符號(hào)：A.儀表名稱或被測(cè)之量的標(biāo)志符號(hào)；B.型號(hào)；C.系別符號(hào)；D.準(zhǔn)確度等級(jí)；E.廠名或廠標(biāo)；F.制造標(biāo)準(zhǔn)號(hào)；G.制造年月或出廠編號(hào)；H.電流種類或相數(shù)，三相儀表中測(cè)量機(jī)構(gòu)的元件數(shù)量；I.正常工作位置；J.互感器的變比(指與互感器聯(lián)用的儀表)；K.定值導(dǎo)線值(或符號(hào))和分流器額定電壓降值(對(duì)低量限電壓表的要求)。

2.儀表的端鈕和轉(zhuǎn)換開關(guān)上應(yīng)有用途標(biāo)志；

3.從外表看，零部件完整，無(wú)松動(dòng)，無(wú)裂縫，無(wú)明顯殘缺或污損。當(dāng)傾斜或輕搖儀表時(shí)，內(nèi)部無(wú)撞擊聲；

4.向左右兩方向旋動(dòng)機(jī)械調(diào)零器，指示器應(yīng)轉(zhuǎn)動(dòng)靈活，左右對(duì)稱； 樣品和細(xì)胞的擴(kuò)張/收縮 長(zhǎng)度相對(duì)變化（ΔL）。安徽光電激光干涉儀

引力波測(cè)量干涉儀也可以用于引力波探測(cè)(Saulson,1994)。激光干涉儀引力波探測(cè)器的概念是前蘇聯(lián)科學(xué)家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的（Gertsenshtein和Pustovoit 1962。1969年美國(guó)科學(xué)家Weiss和Forward則分別在1969年即于麻省理工和休斯實(shí)驗(yàn)室建造初步的試驗(yàn)系統(tǒng)（Weiss 1972）。截止jin ri，激光干涉儀引力波探測(cè)器已經(jīng)發(fā)展了40余年。目前LIGO激光干涉儀實(shí)驗(yàn)宣稱shou ci直接測(cè)量到了引力波 (LIGO collaboration 2016)。LIGO可以認(rèn)為是兩路光線的干涉儀，而另外一類引力波探測(cè)實(shí)驗(yàn)， 脈沖星測(cè)時(shí)陣列則可認(rèn)為是多路光線干涉儀（Hellings和Downs,1983）。模切尺寸激光干涉儀高精度測(cè)量超長(zhǎng)距離測(cè)量，齒輪傳動(dòng)間隙測(cè)量。

被光束照射到的電子會(huì)吸收光子的能量，但是其中機(jī)制遵照的是一種非全有即全無(wú)的判據(jù)，光子所有能量都必須被吸收，用來(lái)克服逸出功，否則這能量會(huì)被釋出。假若電子所吸收的能量能夠克服逸出功，并且還有剩余能量，則這剩余能量會(huì)成為電子在被發(fā)射后的動(dòng)能。逸出功W是從金屬表面發(fā)射出一個(gè)光電子所需要的較小能量。如果轉(zhuǎn)換到頻率的角度來(lái)看，光子的頻率必須大于金屬特征的極限頻率，才能給予電子足夠的能量克服逸出功。逸出功與極限頻率之間的關(guān)系為其中，h是普朗克常數(shù)，W是光頻率為的光子的能量?？朔莩龉χ?，光電子的比較大動(dòng)能為其中，hv是光頻率為v的光子所帶有并且被電子吸收的能量。實(shí)際物理要求動(dòng)能必須是正值，因此，光頻率必須大于或等于極限頻率，光電效應(yīng)才能發(fā)生。

被光束照射到的電子會(huì)吸收光子的能量，但是其中機(jī)制遵照的是一種非全有即全無(wú)的判據(jù)，光子所有能量都必須被吸收，用來(lái)克服逸出功，否則這能量會(huì)被釋出。假若電子所吸收的能量能夠克服逸出功，并且還有剩余能量，則這剩余能量會(huì)成為電子在被發(fā)射后的動(dòng)能。逸出功W是從金屬表面發(fā)射出一個(gè)光電子所需要的較小能量。如果轉(zhuǎn)換到頻率的角度來(lái)看，光子的頻率必須大于金屬特征的極限頻率，才能給予電子足夠的能量克服逸出功。逸出功與極限頻率之間的關(guān)系為其中，h是普朗克常數(shù)，W是光頻率為的光子的能量。克服逸出功之后，光電子的比較大動(dòng)能為其中，hv是光頻率為v的光子所帶有并且被電子吸收的能量。實(shí)際物理要求動(dòng)能必須是正值，因此，光頻率必須大于或等于極限頻率，光電效應(yīng)才能發(fā)生。           Beamline Fac。需要具有<100nrad RMS機(jī)械指向穩(wěn)定性的鏡架。

光束里的光子所擁有的能量與光的頻率成正比。假若金屬里的自由電子吸收了一個(gè)光子的能量，而這能量大于或等于某個(gè)與金屬相關(guān)的能量閾（閥）值（稱為這種金屬的逸出功），則此電子因?yàn)閾碛辛俗銐虻哪芰?，?huì)從金屬中逃逸出來(lái)，成為光電子；若能量不足，則電子會(huì)釋出能量，能量重新成為光子離開，電子能量恢復(fù)到吸收之前，無(wú)法逃逸離開金屬。增加光束的輻照度會(huì)增加光束里光子的“密度”，在同一段時(shí)間內(nèi)激發(fā)更多的電子，但不會(huì)使得每一個(gè)受激發(fā)的電子因吸收更多的光子而獲得更多的能量。換言之，光電子的能量與輻照度無(wú)關(guān)，只與光子的能量、頻率有關(guān)。緊湊，適用于設(shè)備集成。非接觸激光干涉儀缺陷檢測(cè)

三軸機(jī)床和坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的21種可能運(yùn)動(dòng)誤差的校準(zhǔn)，復(fù)雜 且實(shí)惠。安徽光電激光干涉儀

5指針不應(yīng)彎曲，與標(biāo)度盤表面間的距離要適當(dāng)。對(duì)裝有反射鏡式讀數(shù)裝置的儀表應(yīng)不大于(0.02L+1)MM；其余儀表應(yīng)不大于(0.01L+1)MM。指針與標(biāo)度尺在同一水平面上的儀表，其指針前列與標(biāo)度尺邊緣的間隙應(yīng)不超過(0.01L+0.8)MM。其中L是標(biāo)度尺長(zhǎng)度，MM。刀形和絲形指針的前列至少應(yīng)蓋住標(biāo)度尺上較短分度線的1/2，矛形指針可為1/2～3/4；

6檢查有無(wú)封印，外殼密封是否良好。三相儀表應(yīng)在對(duì)稱電壓和平衡負(fù)載的條件下檢驗(yàn)。三相系統(tǒng)中每一個(gè)線電壓或相電壓以及電流與系統(tǒng)中相應(yīng)量的平均值之差均不應(yīng)大于1%。各個(gè)相電流與對(duì)應(yīng)相電壓的相位差之間的差值不大于2°。 安徽光電激光干涉儀